[发明专利]一种电子元件移动测试装置在审

专利信息
申请号: 201710884724.0 申请日: 2017-09-26
公开(公告)号: CN109557342A 公开(公告)日: 2019-04-02
发明(设计)人: 刘梅 申请(专利权)人: 南京誉凯电子科技有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 210000 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 一种电子元件移动测试装置,包括承载治具和检测仪器,承载治具包括有导电体;导电体包括用于连接被测的电子元件的元件连接端,用于连接检测仪器的仪器连接端以及用于连接元件连接端和仪器连接端的连接部;检测仪器设有用于触接电子元件的元件接触部和用于触接仪器连接端的仪器接触部;电子元件、导电体和检测仪器依次连接构成测试回路。当插接于承载治具的导电体上的电子元件,完成一项电气性能测试后,可通过承载治具整体移动到下一个检测仪器的工作站,进行下一项测试,避免了在进行多项电气性能测试时电子元件重复取放,省时省力,提高生产效率,降低成本。
搜索关键词: 承载治具 导电体 仪器连接 电气性能测试 移动测试装置 检测 触接 元件接触部 测试回路 连接检测 连接元件 生产效率 依次连接 元件连接 整体移动 连接端 插接 取放 省时 省力 工作站 测试 重复
【主权项】:
1.一种电子元件移动测试装置,其特征在于:包括承载治具和检测仪器,所述承载治具包括导电体;所述导电体包括用于连接被测的电子元件的元件连接端,用于连接所述检测仪器的仪器连接端以及用于连接所述元件连接端和所述仪器连接端的连接部;所述检测仪器设有用于触接所述电子元件的元件接触部和用于触接所述仪器连接端的仪器接触部;所述电子元件、所述导电体和所述检测仪器依次连接构成测试回路。
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