[发明专利]闪存单元、闪存阵列及其操作方法有效
申请号: | 201710885047.4 | 申请日: | 2017-09-26 |
公开(公告)号: | CN107658301B | 公开(公告)日: | 2020-07-31 |
发明(设计)人: | 徐涛;李冰寒 | 申请(专利权)人: | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
主分类号: | H01L27/11521 | 分类号: | H01L27/11521;H01L27/11526;G11C16/08 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 屈蘅 |
地址: | 201203 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供了一种闪存单元、闪存阵列及其操作方法,包括:P型衬底内形成有N阱,所述N阱中形成有P型掺杂区,所述P型掺杂区作为第一源极、第二源极和漏极;所述N阱上的栅极结构位于所述第一源极和所述第二源极之间,所述栅极结构具有关于擦除栅对称的两个存储位,每个存储位均包含了浮栅和字线栅。本发明提供的闪存单元通过漏极夹断点处热空穴的碰撞离化产生高能电子甚至热电子来编程,有利于器件的微缩,达到缩小器件单元面积的目的,并且本发明提供的闪存单元具有专门的擦除栅,可以不在字线栅上加高压进行擦除,这样字线栅下面的第二氧化层可以做的很薄,因此读取电压可以很小,简化了读取电路的设计。 | ||
搜索关键词: | 闪存 单元 阵列 及其 操作方法 | ||
【主权项】:
一种闪存单元,其特征在于,所述闪存单元包括:P型衬底,所述P型衬底内形成有N阱,所述N阱中形成有P型掺杂区,所述P型掺杂区内形成有两个源极和位于两个源极之间的漏极;位于所述N阱上的栅极结构,所述栅极结构包括擦除栅和关于所述擦除栅对称的两个存储位,每个所述存储位均包括浮栅和字线栅,每个所述存储位的浮栅均位于其所在存储位的字线栅和所述擦除栅之间,每个浮栅均包括浮栅尖端,每个所述浮栅尖端均对准所述擦除栅;其中,一存储位,一源极和所述漏极构成一存储结构,另一存储位,另一源极和所述漏极构成另一存储结构;所述擦除栅与所述P型衬底的N阱之间形成有第一氧化层,每个字线栅均与所述P型衬底的N阱之间形成有第二氧化层;每个所述浮栅与每个所述字线栅之间均形成有浮栅侧墙。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海华虹宏力半导体制造有限公司,未经上海华虹宏力半导体制造有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710885047.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种闪存制造方法
- 下一篇:一种存储器结构及其制备方法
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的