[发明专利]材料的挠曲性能的评价装置和使用其的评价方法有效
申请号: | 201710888011.1 | 申请日: | 2017-09-27 |
公开(公告)号: | CN108088753B | 公开(公告)日: | 2022-07-05 |
发明(设计)人: | 孔惠英;权福顺;郑暎锡 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | G01N3/20 | 分类号: | G01N3/20 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 屈玉华 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种挠曲性能的评价装置以及一种使用其评价弯曲样品的挠曲性能的评价方法,该评价装置包括:支架;主体,设置在支架上并且能够沿着支架的长度方向移动;夹具,联接到主体以在主体上旋转并且固定待被评价的样品的第一侧;以及按压部,设置在夹具之上并且按压样品的与第一侧相反的第二侧并且设置得比样品的第一侧高以弯曲样品。 | ||
搜索关键词: | 材料 挠曲 性能 评价 装置 使用 方法 | ||
【主权项】:
1.一种用于评价挠曲性能的装置,包括:支架;主体,设置在所述支架上并且能够沿着所述支架的长度方向移动;夹具,联接到所述主体并且能够在所述主体上旋转并且固定待被评价的样品的第一侧;以及按压部,其设置在所述夹具上,按压所述样品的与所述第一侧相反的第二侧并且设置得比所述样品的所述第一侧高以弯曲所述样品。
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