[发明专利]测试机构及其测试方法在审
| 申请号： | 201710888911.6 | 申请日： | 2017-09-27 |
| 公开（公告）号： | CN107505742A | 公开（公告）日： | 2017-12-22 |
| 发明（设计）人： | 周纪登;李环宇 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;合肥鑫晟光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所11105 | 代理人： | 彭久云 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种测试机构及其测试方法。该测试机构包括至少一个气压控制结构以及至少一个光学传感器，所述气压控制结构配置为在测试过程中控制待测试的产品的至少部分表面的气压，所述光学传感器配置为获取所述至少部分表面的物理参数。上述测试机构可以对待测试的产品的抗压能力进行测试，降低产品在测试过程中的损坏几率。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 机构 及其 方法 | ||
【主权项】：
一种测试机构，包括：至少一个气压控制结构，所述气压控制结构配置为在测试过程中控制待测试的产品的至少部分表面的气压；至少一个光学传感器，所述光学传感器配置为获取所述至少部分表面的物理参数。
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