[发明专利]分段变重频模式采样均匀化数字处理方法及装置有效

专利信息
申请号: 201710891898.X 申请日: 2017-09-27
公开(公告)号: CN107870330B 公开(公告)日: 2019-11-29
发明(设计)人: 高阳;杨娟娟;冯帆;杨绪;张选民;党红杏;谭小敏 申请(专利权)人: 西安空间无线电技术研究所
主分类号: G01S13/90 分类号: G01S13/90;G01S7/41
代理公司: 11009 中国航天科技专利中心 代理人: 范晓毅<国际申请>=<国际公布>=<进入
地址: 710100 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种分段变重频模式采样均匀化数字处理方法及装置。其中,所述方法包括以下步骤:步骤S1:根据各采样状态下的工作时间和采样率,确定均一化采样后的各个采样位置;步骤S2:根据采样率和瞬时多普勒带宽,对回波数据进行短时分割得到各子段回波数据;步骤S3:利用专用插值处理将短时分割后的各子段回波数据重新采样到均一化处理的等效采样位置上;步骤S4:对方位重采样后的数据进行距离时间对齐。本发明根据分段变重频信号特点,来设计一种信号均匀化预处理方案来将非均匀采样转化为等效均匀采样信号,以实现利用后续均匀采样信号分析算法获取观测目标特性。
搜索关键词: 分段 变重频 模式 采样 均匀 数字 处理 方法 装置
【主权项】:
1.一种分段变重频模式采样均匀化数字处理方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:/n步骤S1:根据各采样状态下的工作时间和采样率,确定均一化采样后的各个等效采样位置;/n步骤S2:根据采样率和瞬时多普勒带宽,对回波数据进行短时分割得到各子段回波数据;/n步骤S3:利用专用插值处理将短时分割后的各子段回波数据重新采样到均一化处理的等效采样位置上;/n步骤S4:对方位重采样后的数据进行距离时间对齐;其中,/n步骤S1进一步包括如下步骤:/n选取各工作采样状态下相对应的采样率中最大的采样率为均一化采样率;/n计算均一化采样率下总工作时长内的采样点数;/n确定均一化采样后的各个采样位置。/n
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