[发明专利]半导体器件及其操作方法有效
| 申请号： | 201710896237.6 | 申请日： | 2017-09-28 |
| 公开（公告）号： | CN107886989B | 公开（公告）日： | 2021-05-07 |
| 发明（设计）人： | 郑亨洙;孙钟浩 | 申请（专利权）人： | 爱思开海力士有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/00 | 分类号： | G11C29/00 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理有限公司 11363 | 代理人： | 李少丹;许伟群 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种半导体器件包括：第一非易失性存储区至第N非易失性存储区，每个非易失性存储区包括位于行线与列线之间的交叉点处的多个单元；储存电路，包括适用于储存从第一非易失性存储区至第N非易失性存储区传输来的数据的多个单元锁存器；以及操作控制电路，适用于在断裂模式期间，控制第一操作模式至第N操作模式的设置信息分别被编程在第一非易失性存储区至第N非易失性存储区中，以及在启动模式期间，控制从第一非易失性存储区传输来的数据被写入在单元锁存器中，并且响应于操作模式改变请求，控制从第二非易失性存储区至第N非易失性存储区中的一个非易失性存储区传输来的数据被重写在单元锁存器中。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体器件 及其 操作方法 | ||
【主权项】：
一种半导体器件，包括：第一非易失性存储区至第N非易失性存储区，每个非易失性存储区包括位于行线与列线之间的交叉点处的多个单元；储存电路，包括适用于储存从第一非易失性存储区至第N非易失性存储区传输来的数据的多个单元锁存器；以及操作控制电路，适用于：在断裂模式期间，控制第一操作模式至第N操作模式的设置信息分别被编程在第一非易失性存储区至第N非易失性存储区中，以及在启动模式期间，控制从第一非易失性存储区传输来的数据被写入单元锁存器中，以及响应于操作模式改变请求，控制从第二非易失性存储区至第N非易失性存储区中的一个非易失性存储区传输来的数据被重写在单元锁存器中。
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