[发明专利]用于光学测量系统的测量装置有效

专利信息
申请号: 201710897036.8 申请日: 2017-09-28
公开(公告)号: CN107883882B 公开(公告)日: 2020-04-07
发明(设计)人: T.赫尔德;D.考夫曼 申请(专利权)人: 卡尔蔡司工业测量技术有限公司
主分类号: G01B11/03 分类号: G01B11/03;G01B11/00;G01B5/00;G01C15/00
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 王蕊瑞
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及一种用于光学测量系统(100)的测量装置(10),该测量装置具有:刚性本体(28),该刚性本体具有探针本体(34)或工具,并且在该刚性本体上安排了第一光学标记(20);固持部分(30),该固持部分用于用手紧固该测量装置(10)或用于将该测量装置(10)夹紧在机器中,其中,至少在该固持部分(30)上安排了第二光学标记(22);以及弹簧元件(32),该弹簧元件将该刚性本体(28)连接至该固持部分(30)。
搜索关键词: 用于 光学 测量 系统 装置
【主权项】:
一种用于光学测量系统(100)的测量装置(10),具有:‑刚性本体(28),该刚性本体具有探针本体(34)或工具,并且在该刚性本体上安排了第一光学标记(20);‑固持部分(30),该固持部分用于用手紧固该测量装置(10)或用于将该测量装置(10)夹紧在机器中,其中,至少在该固持部分(30)上安排了第二光学标记(22);以及‑弹簧元件(32),该弹簧元件将该刚性本体(28)连接至该固持部分(30)。
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