[发明专利]一种光频梳六自由度测量方法及测量系统有效
| 申请号： | 201710897562.4 | 申请日： | 2017-09-28 |
| 公开（公告）号： | CN107727058B | 公开（公告）日： | 2020-06-19 |
| 发明（设计）人： | 吴冠豪;曾理江;朱泽斌;熊士林;倪凯;周倩 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G01C1/00 | 分类号： | G01C1/00;G01B11/02 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人： | 徐宁;刘美丽 |
| 地址： | 100084 北京市海淀区1*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种光频梳六自由度测量方法及测量系统，其特征在于包括以下内容：1)设置具有一定重复频率差的第一光频梳和第二光频梳，第一光频梳和第二光频梳的光谱范围有重叠，以保证两光频梳能发生多外差干涉；2)第一光频梳分成两束光脉冲分别经由设置在测量臂的测量光栅角锥和设置在参考臂上的参考光栅角锥衍射返回后合成一束光；3)第二光频梳发出的光脉冲依次经两个平行间隔设置的透射二维光栅，其中，透射二维光栅与测量光栅角锥中的光栅参数相同；4)合光光束与经透射二维光栅出射的光脉冲发生干涉，同时测量两个正交方向的干涉信息得到测量光栅角锥的六自由度位置和姿态信息。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光频梳六 自由度 测量方法 测量 系统 | ||
【主权项】：
一种光频梳六自由度测量方法，其特征在于包括以下内容：1)设置具有一定重复频率差的第一光频梳和第二光频梳，第一光频梳和第二光频梳的光谱范围有重叠，以保证两光频梳能够发生多外差干涉；2)第一光频梳分成两束光脉冲分别经由设置在测量臂的测量光栅角锥和设置在参考臂上的参考光栅角锥衍射返回后合成一束光；3)第二光频梳发出的光脉冲依次发送到两个平行间隔设置的透射二维光栅，其中，透射二维光栅与测量光栅角锥中的光栅参数相同；4)合光光束与经透射二维光栅出射的光脉冲发生干涉，同时测量两个正交方向的干涉信息得到测量光栅角锥的六自由度位置和姿态信息；其中，六自由度位置和姿态包括俯仰角、偏摆角、横向位移、轴向位移和滚转角。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于清华大学，未经清华大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201710897562.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
