[发明专利]磁力计校准方法及设备有效
| 申请号： | 201710898345.7 | 申请日： | 2017-09-28 |
| 公开（公告）号： | CN107607899B | 公开（公告）日： | 2019-11-19 |
| 发明（设计）人： | 陈维亮 | 申请（专利权）人： | 歌尔科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 11610 北京太合九思知识产权代理有限公司 | 代理人： | 刘戈<国际申请>=<国际公布>=<进入国 |
| 地址： | 266104 山东省青岛*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明提供一种磁力计校准方法及设备。其中，方法包括：从磁力计的三个轴中，选择第一待测轴和第二待测轴；其中，第一待测轴和第二待测轴是磁力计的三个轴中任意两个轴；在磁力计在第一待测轴和第二待测轴所在平面内绕第三待测轴旋转过程中，分别读取第一待测轴和第二待测轴在磁力计旋转至多个指定角度时的多个测量值；其中，第三待测轴是磁力计的三个轴中除第一待测轴和第二待测轴之外的轴；根据第一待测轴的多个测量值、第二待测轴的多个测量值以及多个指定角度，拟合椭圆方程；椭圆方程用于对第一待测轴和第二待测轴的实际测量值进行校准。本实施例提供的方法可以准确对磁力计进行校准。 | ||
| 搜索关键词： | 磁力计 校准 方法 设备 | ||
【主权项】：
1.一种磁力计校准方法，其特征在于，包括：/n从磁力计的三个轴中，选择第一待测轴和第二待测轴；其中，所述第一待测轴和所述第二待测轴是所述磁力计的三个轴中任意两个轴；/n在所述磁力计在所述第一待测轴和所述第二待测轴所在平面内绕第三待测轴旋转过程中，分别读取所述第一待测轴和所述第二待测轴在所述磁力计旋转至多个指定角度时的多个测量值，每个指定角度对应一个测量值；其中，所述第三待测轴是所述磁力计的三个轴中除所述第一待测轴和所述第二待测轴之外的轴；/n根据所述第一待测轴的多个测量值、所述第二待测轴的多个测量值拟合椭圆方程；/n根据所述椭圆方程对所述第一待测轴的实际测量值和所述第二待测轴的实际测量值进行校准，获得所述第一待测轴的校准值和所述第二待测轴的校准值。/n
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