[发明专利]一种射源定位的方法及装置

摘要

本发明提供一种射源定位的方法与装置，包括步骤：S1：在第一位置处测量闪烁晶体阵列的第一计数率组；S2：利用第一计数率组计算射源相对于闪烁晶体阵列的第一相对角度；S3：将闪烁晶体阵列移动至第二位置处；S4：在第二位置处测量闪烁晶体阵列的第二计数率组；S5：利用第二计数率组计算射源相对于闪烁晶体阵列的第二相对角度，第二相对角度的计算方法与步骤S2相同；S6：利用第一相对角度和第二相对角度计算射源的相对位置坐标。该装置包括闪烁晶体阵列、与闪烁晶体阵列耦合的硅光电倍增器阵列、与硅光电倍增器阵列通信连接的多路计数模块、与多路计算模块通信连接的计算模块以及屏幕。本发明能以低成本实现高效率的射源定位。

主权项

1.一种射源定位的方法，其特征在于，所述方法包括步骤：步骤S1：在第一位置处测量闪烁晶体阵列的第一计数率组，所述闪烁晶体阵列包括4×4根闪烁晶体条；步骤S2：利用所述第一计数率组计算射源相对于所述闪烁晶体阵列的第一相对角度；以所述闪烁晶体阵列的横截面为基准建立XOY坐标系，所述第一相对角度的计算方法为：α＝arctan[(c_y‑2.5)/(c_x‑2.5)]，c_x＝∑(a_i·x_i)/N，c_y＝∑(a_i·y_i)/N，其中，α为所述第一相对角度，(c_x，c_y)为计数率重心，i为介于1至所述闪烁晶体阵列的闪烁晶体条的个数之间的自然数，x_i、y_i是第i个闪烁晶体条在XOY坐标系中对应的坐标，a_i为所述第一计数率组中第i个闪烁晶体条的计数率，N为所述闪烁晶体阵列的总计数率；步骤S3：将所述闪烁晶体阵列移动至第二位置处；步骤S4：在所述第二位置处测量所述闪烁晶体阵列的第二计数率组；步骤S5：利用所述第二计数率组计算所述射源相对于所述闪烁晶体阵列的第二相对角度，所述第二相对角度的计算方法与所述步骤S2相同；步骤S6：利用所述第一相对角度和所述第二相对角度计算所述射源的相对位置坐标。