[发明专利]器件故障的电学检测方法、装置和显示模组有效
申请号: | 201710900166.2 | 申请日: | 2017-09-28 |
公开(公告)号: | CN107516483B | 公开(公告)日: | 2020-06-30 |
发明(设计)人: | 袁粲 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;合肥鑫晟光电科技有限公司 |
主分类号: | G09G3/00 | 分类号: | G09G3/00 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 许静;刘伟 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供一种器件故障的电学检测方法、装置和显示模组。所述器件故障的电学检测方法包括:在一检测阶段包括的置位时间段,向外部补偿线提供一预定置位电压,经过预定置位时间后进入该检测阶段包括的检测时间段;在该检测阶段包括的检测时间段,控制外部补偿线处于浮空状态,向数据线提供预定数据电压,向电源电压输入端提供预定电源电压,向数据写入控制端提供预定数据写入控制电压,向外部补偿控制端提供外部补偿控制电压,经过预定检测时间后,检测外部补偿线上的电压,并根据该电压判断外部补偿像素电路包括的器件是否发生故障。本发明解决在有机发光二极管显示面板制程中的各种暗点不良无法在点灯状态下被准确的检测的问题。 | ||
搜索关键词: | 器件 故障 电学 检测 方法 装置 显示 模组 | ||
【主权项】:
一种器件故障的电学检测方法,应用于外部补偿像素电路,所述外部补偿像素电路与数据写入控制端、数据线、电源电压输入端、外部补偿控制端和外部补偿线连接,其特征在于,一检测阶段包括置位时间段和检测时间段,所述器件故障的电学检测方法包括:在一检测阶段包括的置位时间段,向所述外部补偿线提供一预定置位电压,经过预定置位时间后进入该检测阶段包括的检测时间段;在该检测阶段包括的检测时间段,控制所述外部补偿线处于浮空状态,向所述数据线提供预定数据电压,向所述电源电压输入端提供预定电源电压,向所述数据写入控制端提供预定数据写入控制电压,向所述外部补偿控制端提供外部补偿控制电压,经过预定检测时间后,检测所述外部补偿线上的电压,并根据该电压判断所述外部补偿像素电路包括的器件是否发生故障。
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