[发明专利]3维形状测量方法及3维形状测量装置在审

专利信息
申请号: 201710902006.1 申请日: 2017-09-28
公开(公告)号: CN107869966A 公开(公告)日: 2018-04-03
发明(设计)人: 千贺大辅 申请(专利权)人: JUKI株式会社
主分类号: G01B11/25 分类号: G01B11/25
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司11112 代理人: 何立波,张天舒
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供能抑制测量精度降低的3维形状测量方法。该方法包含下述步骤使正弦波状的明度分布的条纹图案一边移相一边投影至物体;取得多个表示条纹图案所投影到的物体的图像的第1图像数据;基于多个第1图像数据的亮度计算第1图像数据的多个像素各自的相对相位值;将周期不同的多个葛莱码图案投影至物体,取得多个表示葛莱码图案所投影到的物体的图像的第2图像数据;基于多个第2图像数据计算第1图像数据的多个像素各自的条纹图案的条纹次数;基于相对相位值和条纹次数计算第1图像数据的多个像素各自的绝对相位值;基于第1图像数据的多个像素各自的绝对相位值计算物体3维形状。多个葛莱码图案的合成值即葛莱码的周期比条纹图案的周期短。
搜索关键词: 形状 测量方法 测量 装置
【主权项】:
一种3维形状测量方法,其包含下述步骤:使正弦波状的明度分布的条纹图案一边移相一边投影至物体,取得多个表示所述条纹图案所投影到的所述物体的图像的第1图像数据;基于多个所述第1图像数据的亮度,对所述第1图像数据的多个像素各自的相对相位值进行计算;将周期不同的多个葛莱码图案投影至所述物体,取得多个表示所述葛莱码图案所投影到的所述物体的图像的第2图像数据;基于多个所述第2图像数据,对所述第1图像数据的多个所述像素各自的所述条纹图案的条纹次数进行计算;基于所述相对相位值和所述条纹次数,对所述第1图像数据的多个所述像素各自的绝对相位值进行计算;以及基于所述第1图像数据的多个所述像素各自的绝对相位值,对所述物体的3维形状进行计算,多个所述葛莱码图案的合成值即葛莱码的周期比所述条纹图案的周期短。
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