[发明专利]一种用于高层幕墙清洁度检测的装置

摘要

本发明公开了一种用于高层幕墙清洁度检测的装置，包括在光路传输方向上依次放置的光源、测量窗、探测器、处理器，利用X光源在高层幕墙上激发荧光辐射，激发的荧光X射线经过涂有含氮溶液的基板后使荧光X射线的强度得到提升，进而使探测器接收到的荧光辐射的变化量更加灵敏，通过探测器的荧光X射线被发送至处理器分析后得到荧光光谱图，根据荧光辐射的光谱分析得出表面杂质相对含量，结构简单，分析结果可靠性高，分析速度快，抗干扰能力强，有助于清洁机器人的清洁规划和清洁工作检验，减少重复性的劳动耗损，节约清洁成本，提高清洁效率。

主权项

一种用于清洁度检测的装置，其特征在于包括在光路传输方向上依次放置的光源、测量窗、探测器、处理器，其中：光源用于提供X射线激发光源，激发光源入射到待测表面，入射的激发光源被待测表面材料部分吸收并激发荧光辐射；测量窗，包括基板和测量腔，供入射光源与反射荧光通过，其中基板与待测表面平行相对，测量腔用于放置基板；探测器由荧光光谱辐射探测器和对应的电路主板组成，用于接收从待测表面被激发并反射的荧光辐射；处理器，对检测的荧光辐射进行光谱分析，生成并输出分析结果，该分析结果包括表面杂质的相对含量的测定。