[发明专利]一种基于参数提取的快速ADC测试方法

摘要

本发明公开了一种基于参数提取的快速ADC测试方法，即利用静态码值，提取得到用来进行频谱分析的少量静态码值，经过增益误差消除处理后，通过频谱分析估算得到动态参数值；在参数提取测试算法基础之上，重新优化了ADC测试结构，即采用优化的直方图与参数提取测试算法相结合的测试架构；改进的直方图测试方法即利用移动平均滤波器法，通过使用与传统测试相比更少的采样点数得到同样精度的静态参数。与传统ADC测试方法相比，本发明所提ADC测试架构，即利用一次测试采集的静态码值，同时用于通过优化直方图方法计算静态参数和利用参数提取算法估算动态参数，能够在确保计算精度的前提下，大大优化测试时间。

主权项

一种基于参数提取的快速ADC测试方法，其特征在于：包括如下步骤：步骤一，通过仿真实验确定现有动态参数估算算法的最佳测试条件，并进行仿真分析，得到在此最佳测试条件下的动态参数值；其中，所述现有动态参数估算算法为基于INL值估算动态参数算法；步骤二，通过理论推导以及实验仿真，明确静态参数与动态参数之间存在的关系，为现有动态参数估算算法的优化作铺垫；步骤三，对现有动态参数估算算法进行优化，具体为：通过对静态测试所采集的静态码值，进行数据处理，使其能够进行频谱分析进而得出动态参数指标，并通过对12位ADC模型进行MATLAB仿真验证所提优化算法的可行性以及精确性；步骤四，在上述步骤优化算法的基础上，采用移动平均滤波器法优化直方图方法，从而达到优化测试时间的目的；步骤五，选择一款ADC芯片，搭建ADC测试系统，通过具体的实验对优化算法做性能验证。