[发明专利]AMOLED面板测试电路及测试方法在审
| 申请号： | 201710908365.8 | 申请日： | 2017-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN109584760A | 公开（公告）日： | 2019-04-05 |
| 发明（设计）人： | 周思思 | 申请（专利权）人： | 上海和辉光电有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00 |
| 代理公司： | 上海隆天律师事务所 31282 | 代理人： | 臧云霄;钟宗 |
| 地址： | 201506 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了AMOLED面板测试电路及测试方法，属于显示技术领域。该测试电路包括：数据线输出单元、阵列测试单元和面板测试单元；数据线输出单元具有多条数据线，分别与阵列测试单元和面板测试单元连接；阵列测试单元具有多个阵列测试输出端，分别与数据线连接，用于将阵列测试信号输出到相应的数据线；面板测试单元具有多个面板测试输出端和数据信号输入端，且多个面板测试输出端分别与数据线连接，用于在面板测试信号控制下将数据信号输出到相应的数据线。本发明面板测试过程中，每个数据信号只需通过一个开关元件就能输出到数据线，因此通过对电路设计进行改进，可以减少面板测试时的负载，从而可以驱动60Hz以上的数据信号。 | ||
| 搜索关键词： | 数据线 面板测试 测试电路 数据信号 阵列测试 输出端 数据线连接 测试单元 输出单元 和面板 测试 输出 数据信号输入端 面板测试信号 阵列测试信号 电路设计 多个阵列 开关元件 驱动 改进 | ||
【主权项】：
1.一种有源矩阵有机发光二极管AMOLED面板测试电路，具有一个提供阵列测试信号的阵列测试信号输入端和一个提供面板测试信号的面板测试信号输入端，其特征在于，所述AMOLED面板测试电路包括：数据线输出单元、阵列测试单元和面板测试单元；所述数据线输出单元具有多条数据线，分别与所述阵列测试单元和所述面板测试单元连接；所述阵列测试单元具有多个阵列测试输出端，且所述多个阵列测试输出端分别与所述数据线连接，用于将所述阵列测试信号输出到所述数据线输出单元中相应的数据线；以及所述面板测试单元具有多个面板测试输出端和数据信号输入端，所述数据信号输入端用于提供数据信号，且所述多个面板测试输出端分别与所述数据线连接，用于在所述面板测试信号控制下将所述数据信号输出到所述数据线输出单元中相应的数据线。
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