[发明专利]一种超短激光脉冲测量装置

摘要

本发明公开了一种超短脉冲激光测量装置。所述的测量装置中，被测的水平偏振的空间均匀的超短基频激光脉冲经过分光镜后分成透射光和反射光，透射光再分成两束，以水平对称角度入射到晶体Ⅰ，产生的垂直偏振的自相关倍频信号经导光镜组等比例放大成像并实现90度偏转，偏转的倍频光束与基频光束入射到晶体Ⅱ上进行和频，产生双延迟的三阶强度相关信号，从而获得脉冲波形信息。本发明提高了在超短激光脉冲测量中的时间分辨力，本发明的测量装置结构紧凑，调节方便、成本低。

主权项

一种超短脉冲激光测量装置，其特征在于：所述的装置中，在水平偏振的空间均匀的超短基频激光脉冲入射方向上依次设置分光镜Ⅰ（1）、分光镜Ⅱ（2）；基频激光脉冲通过所述的分光镜Ⅰ（1）分成透射光和反射光，透射光经分光镜Ⅱ（2）再一次分成透射光和反射光；在分光镜Ⅱ（2）的透射光路上依次设置有反射镜Ⅰ（3）、延迟调节器Ⅰ（4）、反射镜Ⅱ（5）、晶体Ⅰ（6）、吸收片Ⅰ（7）；在分光镜Ⅱ（2）的反射光路上设置有反射镜Ⅲ（8）、晶体Ⅰ（6）、吸收片Ⅱ（9）；分光镜Ⅱ（2）的透射光经反射镜Ⅰ（3）反射到延迟调节器Ⅰ（4）上进行光程延迟后投射到反射镜Ⅱ（5），经反射镜Ⅱ（5）反射的光束经晶体Ⅰ（6）透射后被吸收片Ⅰ（7）吸收；从分光镜Ⅱ（2）反射的光束经反射镜Ⅲ（8）反射后投射到晶体Ⅰ（6），反射光束经晶体Ⅰ（6）透射后被吸收片Ⅱ（9）吸收；从反射镜Ⅲ（8）反射的光束与从反射镜Ⅱ（5）反射的光束同时投射到晶体Ⅰ（6）上，在这两反射光束重叠区域实现倍频转换，产生的倍频光沿与晶体Ⅰ（6）表面相垂直的方向输出；在晶体Ⅰ（6）输出的倍频光束方向上依次设置导光镜组（10）、晶体Ⅱ（11）、滤波片（12）；所述的倍频光经导光镜组（10）后投射到晶体Ⅱ（11），倍频光束经晶体Ⅱ（11）透射后被滤波片（12）吸收；在分光镜Ⅰ（1）的反射光路上依次设置有反射镜Ⅳ（13）、反射镜Ⅴ（14）、延迟调节器Ⅱ（15）、反射镜Ⅵ（16）、反射镜Ⅶ（17）、反射镜Ⅷ（18）、晶体Ⅱ（11）、滤波片（12）；从分光镜Ⅰ（1）反射的光束依次经反射镜Ⅳ（13）、反射镜Ⅴ（14）反射后进入延迟调节器Ⅱ（15）进行光程延迟后投射到反射镜Ⅵ（16），从反射镜Ⅵ（16）反射的基频光束依次经反射镜Ⅶ（17）、反射镜Ⅷ（18）反射后投射到晶体Ⅱ（11），从反射镜Ⅷ（18）反射的基频光束经晶体Ⅱ（11）透射后被滤波片（12）吸收；从反射镜Ⅷ（18）反射的基频光束与导光镜组（10）出射的倍频光束同时投射晶体Ⅱ（11）上，在所述的基频光束与倍频光束的重叠区域实现三倍频转换，产生的三倍频光沿与晶体Ⅱ（11）表面相垂直的方向输出；在三倍频光束方向上依次设置滤波片（12）、CCD（19）；三倍频光束经滤波片12进行滤波和强度衰减后进入CCD（19）；CCD（19）外接计算机，来自CCD（19）的信号最后进入计算机进行数据处理。