[发明专利]一种探测器光谱测量方法有效

专利信息
申请号: 201710924753.5 申请日: 2017-10-01
公开(公告)号: CN107748010B 公开(公告)日: 2020-03-31
发明(设计)人: 张开骁;雷撼;张爱梅;邹华 申请(专利权)人: 河海大学
主分类号: G01J3/32 分类号: G01J3/32;G01J3/10
代理公司: 江苏斐多律师事务所 32332 代理人: 张佳妮
地址: 210098 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种探测器光谱测量方法,通过LED光源特征量预先测定、探测器特征量预先测定、变电流测量、分析过程、输出结果等步骤,实现了一种利用单探测器的LED混合光谱测量方法。本发明不仅可以通过测量更多组实验数据、通过减小测量随机误差来提高测量精度,还可以通过选用更高级的算法来进一步提高其测量精度。与通常的光谱测量系统比较,不仅具有硬件结构的优势,减少了现有系统的结构组件,使得成本与系统体积大大降低,而且软件算法部分可以不断升级,使得产品性能更强、应用更广泛。
搜索关键词: 一种 探测器 光谱 测量方法
【主权项】:
一种探测器光谱测量方法,其步骤包括:A、光源特征量预先测定:采用单个或多个LED作为光源,光源的发光强度用函数P(λ)*I(λ,i)*i表示,波长λ的取值分别为L1、L2、...、LN,N为大于1的自然数,其中,i是工作电流大小,N阶数组P(λ)为LED单位工作电流(i=1mA)下的发光强度,N*M阶数组I(λ,i)为LED的工作电流i对应的波长因子,其中,定义I(λ,1mA)=1 1...1,N个1,N为波长λ的个数,M代表不同工作电流i的取值个数,M为大于1的自然数,M大于等于N,则N*M阶数组I(λ,i)=I(λ1,i1)I(λ2,i1)...I(λN,i1)I(λ1,i2)I(λ2,i2)...I(λN,i2)............I(λ1,iM)I(λ2,iM)...I(λN,iM);]]>B、探测器特征量预先测定:采用单个探测器,探测器对光谱的响应函数为N阶数组X(λ),其中,X(λ)=X(L1)、X(L2)、...、X(LN),波长λ的取值分别为L1、L2、...、LN;C、变电流测量:屏蔽环境光的影响,点亮LED光源,使得光源工作电流i取M次大小不等的电流值,直接测量得到M次探测器对应的总响应电流Zj,j=1,2,3、...、M,其中,Zj=Z1、Z2、...、ZM;D、分析过程:由M个电流i值、M个总响应电流值(Z1、Z2、...、ZM)、N个探测器对光谱的响应函数值(X(L1)、X(L2)、...、X(LN))以及N*M阶数组I(λ,i)的值可以得到M个等式构成的方程组,具体形式为i1*X(L1)*I11*x1+i1*X(L2)*I12*x2+...+i1*X(LN)*I1N*xN=Z1;i2*X(L1)*I21*x1+i2*X(L2)*I22*x2+...+i2*X(LN)*I2N*xN=Z2;...iM*X(L1)*IM1*x1+iM*X(L2)*IM2*x2+...+iM*X(LN)*IMN*xN=ZM;E、输出结果:求解上述M个等式构成的方程组,得到电流i=1mA时对应的光谱(x1、x2...、xN)。
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