[发明专利]一种基于多指SiGe HBT的辐射强度检测器有效
| 申请号： | 201710927004.8 | 申请日： | 2017-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN107728190B | 公开（公告）日： | 2023-09-26 |
| 发明（设计）人： | 秦国轩;赵政;张一波;党孟娇;王亚楠 | 申请（专利权）人： | 天津大学 |
| 主分类号： | G01T1/24 | 分类号： | G01T1/24 |
| 代理公司： | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人： | 杜文茹 |
| 地址： | 300192*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 一种基于多指SiGe HBT的辐射强度检测器，包括依次串联连接的：三八译码器、起连接作用的第一排插、可拆卸辐射强度探测阵列、起连接作用的第二排插、滤波器阵列和A/D转换电路阵列和FPGA芯片，FPGA芯片的信号输入端还连接矩阵键盘，FPGA芯片的输出端连接液晶显示器以及连接三八译码器的输入端。可拆卸辐射强度探测阵列是由若干个结构相同的检测单元构成，每一个检测单元的输入端通过第一排插连接三八译码器的输出端，每一个检测单元的输出端通过第二排插连接滤波器阵列的输入端。本发明可以实现对质子辐射、电离辐射和中子辐射辐射强度的快速高效检测。可应用于航空航天，核电站等对辐射敏感的工作区域，也可以应用于日常生产生活中。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 sige hbt 辐射强度 检测器 | ||
【主权项】：
一种基于多指SiGe HBT的辐射强度检测器，其特征在于，包括依次串联连接的：三八译码器(1)、起连接作用的第一排插(2)、可拆卸辐射强度探测阵列(3)、起连接作用的第二排插(4)、滤波器阵列(5)和A/D转换电路阵列(6)和FPGA芯片(7)，所述FPGA芯片(7)的信号输入端还连接矩阵键盘(8)，所述FPGA芯片(7)的输出端连接液晶显示器(10)以及连接三八译码器(1)的输入端。
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