[发明专利]一种单板双通道FT量产测试及良率分析系统及方法有效
申请号: | 201710932710.1 | 申请日: | 2017-10-10 |
公开(公告)号: | CN107907815B | 公开(公告)日: | 2020-05-26 |
发明(设计)人: | 庞新洁 | 申请(专利权)人: | 芯海科技(深圳)股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 深圳市神州联合知识产权代理事务所(普通合伙) 44324 | 代理人: | 王志强 |
地址: | 518067 广东省深圳市南山*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种单板双通道产测及良率分析系统,该系统构包括有人机接口处理模块、接触电阻检测模块、移动数据存储模块、固件更新模块、handler控制模块、电源控制与电压校准模块、模拟指标测试模块、良率分析模块和LCD显示模块,其中,人机接口处理模块、接触电阻检测模块、移动数据存储模块、固件更新模块、handler控制模块、电源控制与电压校准模块、模拟指标测试模块、良率分析模块集成于嵌入式微处理器中。本发明能够减少测试成本,实现产测要求,自动根据多批次测试结果制定良率控制线,提高测试精确度,减少因接触问题而导致的数据不准确,效率大幅度提升。 | ||
搜索关键词: | 一种 单板 双通道 ft 量产 测试 分析 系统 方法 | ||
【主权项】:
一种单板双通道产测及良率分析系统,其特征在于该系统构包括有人机接口处理模块、接触电阻检测模块、移动数据存储模块、固件更新模块、handler控制模块、电源控制与电压校准模块、模拟指标测试模块、良率分析模块和LCD显示模块,其中,人机接口处理模块、接触电阻检测模块、移动数据存储模块、固件更新模块、handler控制模块、电源控制与电压校准模块、模拟指标测试模块、良率分析模块集成于嵌入式微处理器中;嵌入式微处理器通过数据传输接口与LCD显示模块连接,通过handler控制接口、烧录接口、通信检测接口及过冲控制接口与Handler设备上的被测芯片连接。
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