[发明专利]一种单板双通道FT量产测试及良率分析系统及方法有效

专利信息
申请号: 201710932710.1 申请日: 2017-10-10
公开(公告)号: CN107907815B 公开(公告)日: 2020-05-26
发明(设计)人: 庞新洁 申请(专利权)人: 芯海科技(深圳)股份有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 深圳市神州联合知识产权代理事务所(普通合伙) 44324 代理人: 王志强
地址: 518067 广东省深圳市南山*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种单板双通道产测及良率分析系统,该系统构包括有人机接口处理模块、接触电阻检测模块、移动数据存储模块、固件更新模块、handler控制模块、电源控制与电压校准模块、模拟指标测试模块、良率分析模块和LCD显示模块,其中,人机接口处理模块、接触电阻检测模块、移动数据存储模块、固件更新模块、handler控制模块、电源控制与电压校准模块、模拟指标测试模块、良率分析模块集成于嵌入式微处理器中。本发明能够减少测试成本,实现产测要求,自动根据多批次测试结果制定良率控制线,提高测试精确度,减少因接触问题而导致的数据不准确,效率大幅度提升。
搜索关键词: 一种 单板 双通道 ft 量产 测试 分析 系统 方法
【主权项】:
一种单板双通道产测及良率分析系统,其特征在于该系统构包括有人机接口处理模块、接触电阻检测模块、移动数据存储模块、固件更新模块、handler控制模块、电源控制与电压校准模块、模拟指标测试模块、良率分析模块和LCD显示模块,其中,人机接口处理模块、接触电阻检测模块、移动数据存储模块、固件更新模块、handler控制模块、电源控制与电压校准模块、模拟指标测试模块、良率分析模块集成于嵌入式微处理器中;嵌入式微处理器通过数据传输接口与LCD显示模块连接,通过handler控制接口、烧录接口、通信检测接口及过冲控制接口与Handler设备上的被测芯片连接。
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