[发明专利]液晶面板亮度不均匀缺陷的检测方法和系统有效
| 申请号： | 201710933038.8 | 申请日： | 2017-10-09 |
| 公开（公告）号： | CN107845087B | 公开（公告）日： | 2020-07-03 |
| 发明（设计）人： | 史超超 | 申请（专利权）人： | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/136;G06K9/62 |
| 代理公司： | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人： | 钟子敏 |
| 地址： | 518000 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种液晶面板亮度不均匀缺陷的检测方法和缺陷检测系统包括：采集液晶面板各区域图像，对所述图像进行几何校正及滤波处理；记录每一行像素坐标值及灰阶值，依据灰阶值认定背景区域和亮度不均匀缺陷像素点；获取亮度不均匀缺陷结果；获取背景区域图像和亮度不均匀缺陷结果；对获取的亮度不均匀缺陷结果进行与运算，得到新的亮度不均匀缺陷结果；采用SEMU算法对不均匀缺陷等级进行量化，得到第一量化值；采用结构相似性算法对相似度进行量化，得到第二量化值；计算后划分液晶面板的缺陷等级。本发明便于生产线快速、稳定地检测液晶面板亮度不均匀缺陷和对液晶面板进行分级，控制成本，提高利润率。 | ||
| 搜索关键词： | 液晶面板 亮度 不均匀 缺陷 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
液晶面板亮度不均匀缺陷的检测方法，其特征在于，所述检测方法包括：采集液晶面板各区域图像，对所述图像进行几何校正及滤波处理；记录每一行像素坐标值及灰阶值，依据灰阶值认定背景区域和亮度不均匀缺陷像素点；采用阈值分割法获取亮度不均匀缺陷结果；采用独立成分分析算法获取背景区域图像和亮度不均匀缺陷结果；对阈值分割法和独立成分分析算法获取的亮度不均匀缺陷结果进行与运算，得到新的亮度不均匀缺陷结果；采用SEMU算法对所述液晶面板的亮度不均匀缺陷等级进行量化，得到第一量化值；采用结构相似性算法对液晶面板图像质量的相似度进行量化，得到第二量化值；使用所述第一量化值和第二量化值进行计算，根据计算结果划分液晶面板的缺陷等级。
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