[发明专利]一种定量表征复相材料主相组织晶粒尺寸的方法有效

专利信息
申请号: 201710936423.8 申请日: 2017-10-10
公开(公告)号: CN107894433B 公开(公告)日: 2021-02-19
发明(设计)人: 孟杨;崔桂彬;鞠新华;任群;郝京丽 申请(专利权)人: 首钢集团有限公司
主分类号: G01N23/203 分类号: G01N23/203
代理公司: 北京华谊知识产权代理有限公司 11207 代理人: 王普玉
地址: 100041 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种定量表征复相材料主相组织晶粒尺寸的方法,属于金属材料物理性能检验技术领域。通过试样的制备制得主相组织和第二相组织微观有差异的截面试样;然后进行EBSD面扫描,主相组织标定率高于90%,第二相标定率低于10%,甚至于无衍射花样;最后对EBSD面扫描数据分析,去除扫描结果中误标点、奇异点和噪点,然后采用去除小晶粒的方式把第二相已标定的数据点设定为零解,或采用通过衍射衬度图中第二相对应的衬度范围设定为零解,再重复噪点的去除过程,对主相组织晶粒进行定量分析。优点在于:不仅能清晰、直观地显示复相材料主相晶粒的微观形貌,对晶粒尺寸的进行定量表征。
搜索关键词: 一种 定量 表征 材料 组织 晶粒 尺寸 方法
【主权项】:
一种定量表征复相材料主相组织晶粒尺寸的方法,其特征在于,具体步骤及参数如下:1)试样的制备:采用精密切割机切割出待测试样;采用机械磨平机磨平试样;采用机械抛光机抛光试样,抛光磨料为人造金刚石抛光剂;采用电解抛光、振动抛光、化学浸蚀或离子轰击方式去除应力层,制得主相组织和第二相组织微观有差异的截面试样;2)EBSD面扫描:将抛光好的截面试样用导电胶带固定在70°倾斜的样品台上,把试样放入场发射扫描电镜样品室内,动态聚焦使主相图像清晰,第二相图像清晰度差于主相图像;采集图像,去除背底,选定组织晶体参数,标定EBSD花样,设定步长为主相晶粒直径的1/15至1/10,在200至1000倍的放大倍数下做EBSD全视场面扫描,完成数据采集;主相组织标定率高于90%,第二相标定率低于10%,甚至于无衍射花样;3)EBSD面扫描数据分析:首先去除扫描结果中误标点、奇异点和噪点,噪点的去除过程是通过检查噪点周围的点的取向取平均值的方法填充,噪点去除选择6Leval或7Leval,噪点不用全部去除,然后采用去除小晶粒的方式把第二相已标定的数据点以小晶粒的形式设定为零解,或采用通过衍射衬度图中第二相对应的衬度范围设定为零解,再重复噪点的去除过程,对主相组织晶粒进行定量分析。
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