[发明专利]数据测试方法、装置及电子设备

摘要

本发明实施例提供一种数据测试方法、装置及电子设备，涉及测试技术领域。所述数据测试方法包括：使用MVP架构将Instrumentation Test测试工程划分为Model层、View层和Presenter层；在Java虚拟机上运行对Model层和Presenter层的测试用例的测试，得到Model层的测试用例的测试通过率和覆盖率的第一数据文件，以及Presenter层的测试用例的测试通过率和覆盖率的第二数据文件，其中，第一数据文件为ec文件，第二数据文件为ec文件；在Dalvik/ART虚拟机上运行对View层的测试用例的测试，得到View层的测试用例的测试通过率和覆盖率的第三数据文件，第三数据文件为exec文件；将第一数据文件、第二数据文件和第三数据文件进行合并，生成测试报告数据。使用该数据测试方法、装置及电子设备，能够提高测试效率。

主权项

1.一种数据测试方法，其特征在于，包括：使用MVP架构将Instrumentation Test测试工程划分为Model层、View层和Presenter层；在Java虚拟机上运行对所述Model层和Presenter层的测试用例的测试，得到所述Model层的测试用例的测试通过率和覆盖率的第一数据文件，以及所述Presenter层的测试用例的测试通过率和覆盖率的第二数据文件，其中，所述第一数据文件为ec文件，所述第二数据文件为ec文件；在Dalvik/ART虚拟机上运行对所述View层的测试用例的测试，得到所述View层的测试用例的测试通过率和覆盖率的第三数据文件，所述第三数据文件为exec文件；将所述第一数据文件、第二数据文件和第三数据文件进行合并，生成测试报告数据；所述方法还包括：采取布尔逻辑插桩的方式动态控制所述Model层、View层和Presenter层的测试用例的测试进程；采取布尔逻辑插桩的方式动态控制所述Model层、View层和Presenter层的测试用例的测试进程的步骤，包括：定义插桩布尔函数公式：S(P1，P2...Pm)＝P1(x11，x12，...x1n....)^P2(x21，x22，...x2n....)^......Pm(xm1，xm2，...xmn....)其中，S为执行测试通过率估值；P为对应组件测试用例集合测试布尔函数，取值范围为(０，1]；x为测试用例执行通过率；m为大于2的整数，n为大于2的整数；分组件测试函数集合分别动态计算所述Model层、View层和Presenter层测试用例的测试通过率估值S；根据所述测试通过率估值S控制测试进程，如果S＝1，则继续执行下一个测试；如果S＝0，则终止所有测试；如果0＜S＜1，则跳过当前测试，继续执行下一个测试。