[发明专利]一种光轴标校方法及装置有效
申请号: | 201710940186.2 | 申请日: | 2017-10-11 |
公开(公告)号: | CN107884763B | 公开(公告)日: | 2019-11-12 |
发明(设计)人: | 杜国军;李旭;廖志波;肖正航;穆生博;阴刚华;王聪;贾馨;刘源杰;董欣 | 申请(专利权)人: | 北京空间机电研究所 |
主分类号: | G01S7/497 | 分类号: | G01S7/497 |
代理公司: | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人: | 张晓飞 |
地址: | 100076 北京市丰*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于角镜和电动双光楔的光轴标校方法及装置,使用同侧横向迁移角镜将激光测距仪发射的激光束折转至与入射方向相反,利用电动双光楔接收折转后的激光束并用其扫描激光测距仪内部接收系统的探测器,根据电动双光楔转动角度和接收系统内的单像元探测器测得的能量值拟合得出激光发射机光轴和接收系统视轴的偏差,该光轴标校装置包括衰减装置,同侧横向迁移角镜,电动双光楔,数据采集系统及遮光筒,可实现热真空等特殊环境下光轴的高精度标校。 | ||
搜索关键词: | 一种 光轴 校方 装置 | ||
【主权项】:
1.一种光轴标校的方法,其特征在于步骤如下:1)发射激光束,衰减所述激光束的能量,利用第一平面镜(222)和第二平面反射镜(223)将激光束在水平面内折转至与折转前的激光束光轴平行且方向相反;2)用电动双光楔(23)接收折转后的激光束,转动电动双光楔(23)使激光束扫描外部接收系统(28);3)采集接收系统(28)内探测器(30)上测得的激光束光斑强度及该光斑对应电动双光楔(23)的转动角度,计算接收系统(28)视轴和激光发射机(27)光轴之间的偏差,完成标校;所述计算接收系统(28)视轴和激光发射机(27)光轴之间的偏差包括如下步骤:A)转动电动双光楔(23)让激光束扫描外部接收系统(28),使激光束打到接收系统(28)内部探测器(30)上的光斑连线为水平直线,计算光斑连线中心点对应电动双光楔(23)的转动角度;B)再次转动电动双光楔(23)让激光束扫描外部接收系统(28),使激光束打到接收系统(28)内部探测器(30)上的光斑连线为竖直线,并且光斑连线垂直于上一次获得的光斑连线且过上一次获得的光斑连线中心点,计算此次获得的光斑连线中心点对应电动双光楔(23)的转动角度;C)再次转动电动双光楔(23)让激光束扫描外部接收系统(28),使激光束打到接收系统(28)内部探测器(30)上的光斑连线为水平直线,并且光斑连线垂直于上一次获得的光斑连线且过上一次获得的光斑连线中心点,计算此次获得的光斑连线中心点对应电动双光楔(23)的转动角度;D)判断前后两次光斑水平直线中心点对应电动双光楔(23)转动角度是否相同,若相同则该光斑连线中心点对应电动双光楔(23)的转动角度即为接收系统(28)视轴和激光发射机(27)光轴之间的偏差;若不相同,则重复步骤B)‑C)直至前后两次获得的光斑水平连线中心点对应的电动双光楔(23)转动角度相同,则该光斑连线中心点对应电动双光楔(23)的转动角度即为接收系统(28)视轴和激光发射机(27)光轴之间的偏差,完成标校。
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