[发明专利]基于变差函数及孔隙度的多孔介质表征单元体确定方法有效

专利信息
申请号: 201710944216.7 申请日: 2017-10-11
公开(公告)号: CN107784169B 公开(公告)日: 2020-10-13
发明(设计)人: 张挺 申请(专利权)人: 上海电力学院
主分类号: G06F30/20 分类号: G06F30/20
代理公司: 上海申汇专利代理有限公司 31001 代理人: 吴宝根
地址: 200090 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种基于变差函数及孔隙度的多孔介质表征单元体确定方法,涉及图像处理技术领域,所解决的是确定表征单元体的技术问题。该方法先根据多孔介质体的三维结构图,绘制多孔介质体的孔隙在三维直角坐标系中的变差函数曲线;再根据多孔介质体的三维结构图的分辨率,计算出变差函数曲线的变程在三个坐标轴上的长度,并以该三个长度为长、宽、高构建一个长方体模板;然后将该长方体模板在多孔介质体的三维结构图内部遍历,根据长方体模板内所包含的多孔介质的孔隙度与多孔介质体的整体孔隙度的差值来确定实际的表征单元体。本发明提供的方法,可广泛应用于油气勘探开发和地质分析等一些工程和科学领域。
搜索关键词: 基于 函数 孔隙 多孔 介质 表征 单元 确定 方法
【主权项】:
一种基于变差函数及孔隙度的多孔介质表征单元体确定方法,其特征在于,具体步骤如下:1)获取多孔介质体的三维结构图,并定义一个三维直角坐标系,再根据多孔介质体的三维结构图,绘制多孔介质体的孔隙在该坐标系中的变差函数曲线;2)根据多孔介质体的三维结构图的分辨率,计算出多孔介质体的孔隙的变差函数曲线的变程在三维直角坐标系的三个坐标轴上的长度Lx、Ly、Lz,并以该三个长度Lx、Ly、Lz为长、宽、高构建一个长方体模板;3)预先设定一个阈值θ,并将步骤2)所构建的长方体模板在多孔介质体的三维结构图内部遍历;设长方体模板在多孔介质体的三维结构图内部遍历时,长方体模板内所包含的多孔介质的孔隙度为φ2,设多孔介质体的整体孔隙度为φ1;孔隙度是指多孔介质中的孔隙的体积与多孔介质体的体积的比值;如果有|φ1‑φ2|<θ,则将长方体模板内所包含的多孔介质作为实际的表征单元体。
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