[发明专利]多芯片封装件有效
申请号: | 201710945679.5 | 申请日: | 2017-10-12 |
公开(公告)号: | CN107978581B | 公开(公告)日: | 2021-04-30 |
发明(设计)人: | 韩元吉;金秉柱;李龙济;李在兴;河承源 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | H01L23/498 | 分类号: | H01L23/498;H01L23/49;H01L25/18 |
代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人: | 刘灿强;田野 |
地址: | 韩国京畿*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 提供一种多芯片封装件,所述多芯片封装件包括:封装基底,包括第一基底焊盘;第一组半导体芯片,堆叠在封装基底上,第一组半导体芯片中的每个包括结合焊盘;第一螺柱凸部,布置在第一组半导体芯片的除了第一组中的最下侧半导体芯片之外的结合焊盘上;第一导电布线,从第一组中的最下侧半导体芯片的结合焊盘向下地延伸,并且连接到第一基底焊盘;第二导电布线,从第一组中的最下侧半导体芯片的结合焊盘向上地延伸,并且顺序地连接到第一螺柱凸部。 | ||
搜索关键词: | 芯片 封装 | ||
【主权项】:
一种多芯片封装件,所述多芯片封装件包括:封装基底,包括第一基底焊盘;第一组半导体芯片,堆叠在封装基底上,第一组中的半导体芯片中的每个半导体芯片包括至少一个结合焊盘;第一螺柱凸部,布置在除了第一组中的最下侧半导体芯片之外的第一组半导体芯片的结合焊盘上;第一导电布线,从第一组中的最下侧半导体芯片的至少一个结合焊盘向下地延伸,并且连接到第一基底焊盘;第二导电布线,从第一组中的最下侧半导体芯片的至少一个结合焊盘向上地延伸,并且顺序地连接到第一螺柱凸部。
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