[发明专利]一种CIS参数校正方法、装置、设备及存储介质有效

专利信息
申请号: 201710945793.8 申请日: 2017-10-12
公开(公告)号: CN107707846B 公开(公告)日: 2020-08-18
发明(设计)人: 胡钦惠 申请(专利权)人: 深圳怡化电脑股份有限公司;深圳市怡化时代科技有限公司;深圳市怡化金融智能研究院
主分类号: H04N5/378 分类号: H04N5/378;H04N17/00
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 潘登
地址: 518038 广东省深圳市南山*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种CIS参数校正方法、装置、设备及存储介质。该方法包括:设置CIS的增益值和偏置值;获取第一AD值和第二AD值;计算第一AD值的平均值,作为第一平均值,并计算第二AD值的平均值,作为第二平均值;将第一平均值和第二平均值的平均值作为增益判断值,将第一平均值和第二平均值的差值作为偏置判断值;当增益判断值不满足预设的增益阈值条件和/或偏置判断值不满足预设的偏置阈值条件时,调整增益值和/或偏置值,并重复上述第一AD值和第二AD值的获取以及判断过程,直至增益判断值满足增益阈值条件且偏置判断值满足偏置阈值条件。本发明实施例实现了CIS的自动校正,缩短了校正时间,此外,还减少了人工成本的投入。
搜索关键词: 一种 cis 参数 校正 方法 装置 设备 存储 介质
【主权项】:
一种CIS参数校正方法,其特征在于,包括:设置CIS的增益值和偏置值;获取恒流源在打开状态下采集的第一基准图像中每个像素点的第一模数转换AD值,并获取所述恒流源在关闭状态下采集的第二基准图像中每个像素点的第二AD值;计算所述第一基准图像中每个像素点的第一AD值的平均值,作为第一平均值,并计算所述第二基准图像中每个像素点的第二AD值的平均值,作为第二平均值;将所述第一平均值和所述第二平均值的平均值作为增益判断值,将所述第一平均值和所述第二平均值的差值作为偏置判断值;当所述增益判断值不满足预设的增益阈值条件和/或所述偏置判断值不满足预设的偏置阈值条件时,调整所述增益值和/或偏置值,并重复上述第一AD值和第二AD值的获取以及判断过程,直至所述增益判断值满足所述增益阈值条件且所述偏置判断值满足所述偏置阈值条件。
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