[发明专利]一种氧化锡基半导体薄膜晶体管及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201710947178.0 申请日: 2017-10-12
公开(公告)号: CN107731930A 公开(公告)日: 2018-02-23
发明(设计)人: 宁洪龙;刘贤哲;姚日晖;胡诗犇;张啸尘;李晓庆;张建东;徐苗;王磊;彭俊彪 申请(专利权)人: 华南理工大学
主分类号: H01L29/786 分类号: H01L29/786;H01L21/336
代理公司: 广州市华学知识产权代理有限公司44245 代理人: 罗啸秋
地址: 510640 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明属于显示器件技术领域,公开了一种氧化锡基半导体薄膜晶体管及其制备方法。所述氧化锡基半导体薄膜晶体管由玻璃基板、栅极、栅极绝缘层、有源层和源/漏电极构成,所述的有源层为非晶掺硅氧化锡薄膜。本发明以非晶掺硅氧化锡作为有源层,所得TFT器件无需退火即可获得不错的器件性能,有效地节约生产成本。具有良好的应用前景。
搜索关键词: 一种 氧化 半导体 薄膜晶体管 及其 制备 方法
【主权项】:
一种氧化锡基半导体薄膜晶体管,由玻璃基板、栅极、栅极绝缘层、有源层和源/漏电极构成,其特征在于:所述的有源层为非晶掺硅氧化锡薄膜。
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