[发明专利]一种基于MPT光谱数据的重叠谱线分离方法

摘要

一种基于MPT光谱数据的重叠谱线分离方法，包括步骤：选择待分析的重叠光谱数据，在重叠光谱数据中估算待分离谱线的特征数据，特征数据包括最大峰值I、峰值波长λ和半峰宽σ，及拟合所述最大峰值I所对应的有效分析区域；基于MPT光谱数学模型构建目标函数，并利用目标函数在所述有效分析区域内对待分离谱线的特征数据进行优化匹配，获得最优分离谱线；将重叠光谱数据减去最优分离谱线的光谱数据获得下一个待分析的重叠光谱数据。使得MPT光谱仪进行样品分析时，可以直接使用重叠峰形区域的数据进行定性和定量分析，使得MPT光谱仪的分析性能，以及MPT光谱仪对复杂混合样品的检测能力和检测精度得到了大幅度提升。

主权项

一种基于MPT光谱数据的重叠谱线分离方法，其特征在于，包括步骤：选择待分析的重叠光谱数据，所述重叠光谱数据表示为{X，Y}，其中X＝{λ0，λ1，λi…λn}，Y＝{I0，I1，Ii…In}，i＝0，1，2…n，i为重叠光谱数据的序号，n为重叠光谱数据的个数，λi为第i个谱线的峰值波长，Ii为第i个谱线的光谱强度值；在所述重叠光谱数据中估算待分离谱线的特征数据，所述特征数据包括最大峰值I、峰值波长λ和半峰宽σ，及拟合所述最大峰值I所对应的有效分析区域；基于MPT光谱数学模型构建目标函数，并利用所述目标函数在所述有效分析区域内对所述待分离谱线的特征数据进行优化匹配，获得最优分离谱线；将所述重叠光谱数据减去所述最优分离谱线的光谱数据获得下一个待分析的重叠光谱数据。