[发明专利]一种环件自动化超声相控阵无损检测方法及装置在审

专利信息
申请号: 201710950744.3 申请日: 2017-10-13
公开(公告)号: CN107817299A 公开(公告)日: 2018-03-20
发明(设计)人: 华林;王彬;汪小凯;钱东升;何溪明;张勇 申请(专利权)人: 武汉理工大学
主分类号: G01N29/265 分类号: G01N29/265;G01N29/04
代理公司: 湖北武汉永嘉专利代理有限公司42102 代理人: 唐万荣,王淳景
地址: 430070 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种环件自动化超声相控阵无损检测方法及装置,该方法包括以下步骤S1、将环件和超声相控阵探头均置于收集槽内,探头与环件外圆面之间设有一定提离距离;S2、检测环件近外圆面的内部缺陷设置探头的聚焦深度为环件壁厚δ的一半,开始检测,环件绕其轴线每间隔一定时间Δt旋转一定角度α,每次旋转后重复检测,直至环件旋转一圈为止,然后超声相控阵探头沿环件轴向向下移动距离Δz,重复检测,直到超声相控阵探头移动到环件底部边缘为止;S3、检测环件近内孔面的内部缺陷设置超声相控阵探头的聚焦深度为环件壁厚δ,其余同步骤S2,即完成环件的超声信号采集和记录。本发明能有效地检测出环件内部各个方向上的缺陷。
搜索关键词: 一种 自动化 超声 相控阵 无损 检测 方法 装置
【主权项】:
一种环件自动化超声相控阵无损检测方法,其特征在于,包括以下步骤:S1、将环件和超声相控阵探头均置于装有耦合剂的收集槽内,环件可绕其自身轴线旋转,超声相控阵探头可沿环件轴向做直线运动,超声相控阵探头的初始位置位于环件外圆面上方边缘,超声相控阵探头与环件外圆面之间设有一定提离距离,超声相控阵探头与一超声相控阵检测仪连接,所述超声相控阵检测仪与一工控机连接;S2、检测环件近外圆面的内部缺陷:S201、设置超声相控阵探头的聚焦深度为环件壁厚δ的一半;S202、超声相控阵检测仪根据探头类型和阵元数时序激励超声相控阵探头发射超声信号,在环件内部形成扇形扫查区,同时通过超声相控阵探头将接收到的超声反射回波信号传输给工控机,形成一段扇形扫查截面图,当环件内部存在缺陷时,超声反射回波在缺陷处形成缺陷回波,根据缺陷回波的位置和幅值可以确定缺陷的深度和尺寸,并将缺陷的深度和尺寸反应在工控机的扇形扫查截面图中;S203、环件绕其轴线每间隔一定时间Δt旋转一定角度α,每次旋转后重复步骤S202,直至环件旋转一圈为止;S204、超声相控阵探头沿环件轴向向下移动距离Δz,50%S≤Δz≤85%S,S为超声相控阵探头的覆盖区宽度,重复步骤S202和步骤S203,直到超声相控阵探头移动到环件底部边缘为止;S3、检测环件近内孔面的内部缺陷:设置超声相控阵探头的聚焦深度为环件壁厚δ,重复步骤S202‑S204,即完成环件的超声信号采集和记录。
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