[发明专利]一种用于基因扩增仪测温系统的校准方法在审

专利信息
申请号: 201710952294.1 申请日: 2017-10-13
公开(公告)号: CN107727276A 公开(公告)日: 2018-02-23
发明(设计)人: 张丽萍;秦荣;黄尚 申请(专利权)人: 上海市计量测试技术研究院
主分类号: G01K15/00 分类号: G01K15/00
代理公司: 上海唯智赢专利代理事务所(普通合伙)31293 代理人: 姜晓艳
地址: 200040 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及基因扩增仪测温的技术领域,公开了一种用于基因扩增仪测温系统的校准方法,包括利用使待测的基因扩增仪测温系统的测温模块与恒温槽内部的液体隔开的多孔等温块对基因扩增仪测温系统进行校准,并根据测量数据和标准数据的比较做出判定的步骤。该多孔等温块包括封闭的容纳仓,容纳仓的一个侧面设置有第一开口,第一开口的边缘与基板相连,基板上设置有多孔块,多孔块上均匀设置有多个测试孔,多孔块通过第一开口延伸进入容纳仓内;容纳仓的与所述侧面相连的一个顶面设置有第二开口,第二开口的边缘与长筒的一端相连。本发明借助多孔等温块将测温模块与恒温槽内的液体隔离,并使测温模块和标准计的浸没深度达到校准要求,提高测量精度。
搜索关键词: 一种 用于 基因 扩增 测温 系统 校准 方法
【主权项】:
一种用于基因扩增仪测温系统的校准方法,其特征在于:包括利用使待测的基因扩增仪测温系统的测温模块与恒温槽内部的液体隔开的多孔等温块对所述的基因扩增仪测温系统进行校准,并根据测量数据和标准数据的比较做出判定的步骤。
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