[发明专利]一种原位透射电子显微镜观测纳米颗粒生长的方法有效

专利信息
申请号: 201710953015.3 申请日: 2017-10-13
公开(公告)号: CN109668911B 公开(公告)日: 2021-09-24
发明(设计)人: 余兆丰;徐旭辉;王婷 申请(专利权)人: 香港理工大学
主分类号: G01N23/20 分类号: G01N23/20;C01F17/36;C01G21/16;B82Y40/00
代理公司: 隆天知识产权代理有限公司 72003 代理人: 冯志云;张福根
地址: 中国香港九龙红磡理*** 国省代码: 香港;81
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摘要: 发明提供了一种原位透射电子显微镜(TEM)观测纳米颗粒生长的方法,取形成玻璃的原料成分与形成纳米颗粒的原料成分混合均匀,加热至熔融,降温以形成玻璃前驱体材料;将玻璃前驱体材料研磨成微米尺寸的颗粒,分散至TEM加热芯片上用于原位TEM测试;在TEM环境下将加热芯片加热到一定温度并保温,以观测纳米颗粒在玻璃前驱体中的形核、生长等过程。本发明的观测方法在原位条件下,纳米颗粒可以在玻璃前驱体材料中形核结晶、生长,可实现高温、高稳定性以及高分辨的原位TEM观测,操作更加简便,观测效果优异且可对纳米颗粒生长速度进行调节,对于推动、扩大纳米材料的研究和应用都具有重要的价值。
搜索关键词: 一种 原位 透射 电子显微镜 观测 纳米 颗粒 生长 方法
【主权项】:
1.一种原位透射电子显微镜观测纳米颗粒生长的方法,其特征在于,包括以下步骤:S1:取形成玻璃的原料成分与形成所述纳米颗粒的原料成分混合均匀,加热至玻璃熔融,降温以形成玻璃前驱体材料;S2:将步骤S1所得的玻璃前驱体材料研磨成微米尺寸的颗粒,分散至用于原位透射电子显微镜观测的加热芯片上;以及S3:将所述加热芯片加热并保温,以观测纳米颗粒的形核、结晶以及生长过程。
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