[发明专利]半导体结构及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201710953109.0 申请日: 2017-10-13
公开(公告)号: CN109671736B 公开(公告)日: 2022-09-27
发明(设计)人: 刘志建;谢朝景;杨玉如;周孝邦 申请(专利权)人: 联华电子股份有限公司
主分类号: H01L27/24 分类号: H01L27/24;H01L45/00;H01L29/51;H01L21/8239
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 陈小雯
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明公开一种半导体结构及其制作方法,该半导体结构包含有一基底,该基底中包含有一扩散区,一晶体管结构,位于该基底上,以及一电阻式随机存取存储器(RRAM)位于该基底上,其中该电阻式随机存取存储器包含有至少一金属硅化物层直接接触该扩散区,以及一下电极、一电阻转换层与一上电极依序位于该金属硅化物层上。
搜索关键词: 半导体 结构 及其 制作方法
【主权项】:
1.一种半导体结构,包含有:基底,该基底中包含有一扩散区;晶体管结构,位于该基底上;以及电阻式随机存取存储器(RRAM),位于该基底上,其中该电阻式随机存取存储器包含有至少一金属硅化物层直接接触该扩散区,以及一下电极、一电阻转换层与一上电极依序位于该金属硅化物层上。
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