[发明专利]具有内建测试天线的测试装置在审
| 申请号： | 201710954495.5 | 申请日： | 2017-10-13 |
| 公开（公告）号： | CN107748298A | 公开（公告）日： | 2018-03-02 |
| 发明（设计）人： | 高合助 | 申请（专利权）人： | 环旭电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10 |
| 代理公司： | 隆天知识产权代理有限公司72003 | 代理人： | 李昕巍,郑特强 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区张*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开一种具有内建测试天线的测试装置，其用于测试一具有一待测天线的待测物。具有内建测试天线的测试装置包括一测试基板、一测试基座以及一天线组件。测试基板电性连接于一测试仪器。测试基座设置在测试基板上，以承载待测物。天线组件包括一测试天线以及一天线基板，天线组件内建在测试基座内，以与待测天线相互耦合。天线基板电性连接于测试基板，且测试天线的位置与待测天线的位置为相互对应。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 测试 天线 装置 | ||
【主权项】：
一种具有内建测试天线的测试装置，其用于测试一具有一待测天线的待测物，其特征在于，所述测试装置包括：一测试基板，所述测试基板电性连接于一测试仪器；一测试基座，所述测试基座设置在所述测试基板上，以承载所述待测物；以及一天线组件，所述天线组件包括一测试天线以及一天线基板，所述天线组件内建在所述测试基座内，以与所述待测天线相互耦合；其中，所述天线基板电性连接于所述测试基板，且所述测试天线的位置与所述待测天线的位置为相互对应。
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