[发明专利]一种用于集成电路的测试设备

摘要

公开了一种集成电路的测试设备，设有多个温度传感器，温度传感器分布在壳体（1）内的不同位置，用于检查集成电路内的温度,当要测试集成电路的温度时，把采集端口（3）放置在要测试的集成电路的相应位置，打开电源和开关2，传感器会自动将探测的温度传输至各个测试模块，测试的温度会通过无线的方式实时传递到操作人员的监控终端上，操作人员可以实时比对监控温度，一旦有异常，设备即刻报警通知操作人员，保证了安全性，制作成本低，保护作用显著增强，也大大提高了整体的牢固性和连接的可靠性。

主权项

一种用于集成电路的测试设备，包括壳体，所述的壳体上设有至少5个指示开关，所述的壳体内设有多个温度传感器，所述的温度传感器分布在所述壳体内的不同位置，所述的温度传感器与所述的指示开关通过测试导线电连接，所述的壳体下方设有一个或两个采集端口，所述的壳体上设有显示刻度盘，所述的壳体内还设有第一信号放大模块，所述的传感器与所述的第一信号放大模块通过测试导线电连接，所述的第一信号放大模块与所述的显示刻度盘通过测试导线电连接，其特征在于，所述壳体内设有微控系统，所述的微控系统内设有数据存储功能的记忆模块，所述的温度传感器与所述的微控系统相连，所述的微控系统经由通讯路径连接至监控终端，所述设备内还设有具有自我修复功能的监控电路，所述的监控电路被配备为执行集成电路测试以确定所述的监控电路中的各个部件的运行情况。