[发明专利]用于分子或粒子的超灵敏探测的系统、装置以及方法在审

专利信息
申请号: 201710966565.9 申请日: 2012-01-27
公开(公告)号: CN107765024A 公开(公告)日: 2018-03-06
发明(设计)人: D·福尼尔;T·坎贝尔;C·坎;J·劳森;A·里维纳克;M·卡根;D·C·达菲 申请(专利权)人: 匡特里克斯公司
主分类号: G01N35/10 分类号: G01N35/10;G01N35/00
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所11038 代理人: 王初
地址: 美国马*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明的系统、装置以及方法涉及分析的各方面,用来探测和/或确定在样本流体中分析物分子或粒子浓度的测量结果。在一些情况下,系统采用的可消耗试样包括多个分析部位。系统、装置和/或方法在一些情况下是自动的。本发明提供的一种用来进行分析的设备包括可消耗试样处理器,其与可消耗试样联接,可消耗试样具有包括多个分析部位的表面;密封器,用以将密封元件施加到可消耗试样表面上;样本加载器,用以将分析样本加载到可消耗试样的多个分析部位的至少一部分中;成像系统,用以获得可消耗试样的分析部位的至少一部分(该部分包含分析样本)的图像;及计算机实施控制系统,用以自动地操作密封器,且从成像系统接收与图像相关的信息。
搜索关键词: 用于 分子 粒子 灵敏 探测 系统 装置 以及 方法
【主权项】:
一种用来进行分析的设备,所述设备包括:可消耗试样处理器,所述可消耗试样处理器构造成与可消耗试样可操作地联接,所述可消耗试样具有包括多个分析部位的表面;密封器,所述密封器构造和定位成用以将密封元件施加到所述可消耗试样的表面上;样本加载器,所述样本加载器构造成用以将分析样本加载到所述可消耗试样的多个分析部位的至少一部分中;成像系统,所述成像系统构造成用以获得所述可消耗试样的分析部位的至少一部分的图像,该至少一部分包含分析样本;以及计算机实施控制系统,所述计算机实施控制系统构造成用以自动地操作所述密封器,并且从所述成像系统接收与所述图像相关的信息。
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