[发明专利]一种间接标定单波长X射线硫含量测定仪的方法在审
| 申请号： | 201710969430.8 | 申请日： | 2017-10-18 |
| 公开（公告）号： | CN107957426A | 公开（公告）日： | 2018-04-24 |
| 发明（设计）人： | 刘期彦 | 申请（专利权）人： | 中国石油天然气股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/00 | 分类号： | G01N23/00;G01N21/64 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司11127 | 代理人： | 沈金辉 |
| 地址： | 100007 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种间接标定单波长X射线硫含量测定仪的方法。该方法包括采用紫外荧光硫测定仪，通过标准物质绘制标准曲线；根据标准曲线选取替代标准物质的替代物质；采用替代物质标定单波长X射线硫含量测定仪，完成对单波长X射线硫含量测定仪的间接标定。本发明的方法的标定准确，标定成本低。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 间接 标定 波长 射线 含量 测定 方法 | ||
【主权项】：
一种间接标定单波长X射线硫含量测定仪的方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：采用紫外荧光硫测定仪，通过标准物质绘制标准曲线；根据标准曲线，选取替代标准物质的替代物质；采用替代物质标定单波长X射线硫含量测定仪，完成对单波长X射线硫含量测定仪的间接标定。
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