[发明专利]生成测试传感器数据的方法和设备有效
| 申请号： | 201710971359.7 | 申请日： | 2017-10-18 |
| 公开（公告）号： | CN109684187B | 公开（公告）日： | 2022-02-18 |
| 发明（设计）人： | 张沈斌;孙俊;皮冰锋 | 申请（专利权）人： | 富士通株式会社 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 康建峰;吴琼 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种生成测试传感器数据的方法和设备。该方法包括：获得初始传感器数据；将初始传感器数据比例放大得到中间传感器数据，所述中间传感器数据的取值范围大于初始传感器数据的取值范围且小于或等于传感器的量程，所述中间传感器数据的取值范围被划分为若干取值间隔，存在至少一个其中没有中间传感器数据的空缺取值间隔；利用深度生成模型，生成用于补齐空缺取值间隔内的数据的补偿数据；以及根据中间传感器数据和补偿数据，生成测试传感器数据。 | ||
| 搜索关键词： | 生成 测试 传感器 数据 方法 设备 | ||
【主权项】：
1.一种生成测试传感器数据的方法，包括：获得初始传感器数据；将初始传感器数据比例放大得到中间传感器数据，所述中间传感器数据的取值范围大于初始传感器数据的取值范围且小于或等于传感器的量程，所述中间传感器数据的取值范围被划分为若干取值间隔，存在至少一个其中没有中间传感器数据的空缺取值间隔；利用深度生成模型，生成用于补齐空缺取值间隔内的数据的补偿数据；以及根据中间传感器数据和补偿数据，生成测试传感器数据。
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