[发明专利]半导体装置及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201710975019.1 申请日: 2017-10-19
公开(公告)号: CN108074934B 公开(公告)日: 2021-11-30
发明(设计)人: 李炫虎 申请(专利权)人: 爱思开海力士有限公司
主分类号: H01L27/11551 分类号: H01L27/11551;H01L27/11578
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 李辉;刘久亮
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 这里可提供一种半导体装置及其制造方法。该半导体装置可包括:第一源种子层;第二源种子层,其被设置在第一源种子层上方与第一源种子层间隔开的位置处,并且源区域插置在第一源种子层与第二源种子层之间;单元插塞,其被配置为穿透第二源种子层并延伸到源区域中,所述单元插塞被设置在与第一源种子层间隔开的位置处。该半导体装置还可包括层间源层,该层间源层被配置为填充源区域。
搜索关键词: 半导体 装置 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种半导体装置,该半导体装置包括:第一源种子层;第二源种子层,该第二源种子层被设置在所述第一源种子层上方与所述第一源种子层间隔开的位置处,并且源区域插置在所述第一源种子层与所述第二源种子层之间;单元插塞,所述单元插塞被配置为穿透所述第二源种子层并延伸到所述源区域中,所述单元插塞被设置在与所述第一源种子层间隔开的位置处;以及层间源层,该层间源层被配置为填充所述源区域。
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