[发明专利]一种相位偏折术测量系统标定方法及系统有效
| 申请号： | 201710976667.9 | 申请日： | 2017-10-19 |
| 公开（公告）号： | CN107796305B | 公开（公告）日： | 2019-09-03 |
| 发明（设计）人： | 张旭;李晨;王文超 | 申请（专利权）人： | 华中科技大学无锡研究院 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 孟金喆 |
| 地址： | 214174 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开一种相位偏折术测量系统标定方法及系统，该方法采用平行阶梯平面镜对显示屏幕反射成像，位姿关系中旋转矩阵可通过一个平行平面镜位置获得，位姿关系中平移矩阵只需改变一次平行阶梯平面镜位置，通过线性求解，可大大简化标定过程和降低测量成本，使标定过程更加自由和高效。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 相位 偏折术 测量 系统 标定 方法 | ||
【主权项】：
1.一种相位偏折术测量系统标定方法，其特征在于，包括如下步骤：S101、相机通过平行阶梯平面镜观测到显示屏幕在平行阶梯平面镜中的两个虚像；S102、通过PnP方法获得所述显示屏幕在平行阶梯平面镜中的两个虚像在相机坐标系下的位姿关系；所述两个虚像在相机坐标系下的位姿关系中平移矩阵的连线为平行阶梯平面镜法线；S103、基于所述平行阶梯平面镜法线，通过镜像原理获得所述位姿关系中的旋转矩阵；S104、改变一次平行阶梯平面镜位置，建立显示屏幕镜像平移矩阵的约束关系，通过线性求解获得所述位姿关系中的平移矩阵。
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