[发明专利]用于高功率激光近场测量的高信噪比探测装置及探测方法

摘要

本发明属于激光探测技术领域，具体涉及一种用于高功率激光近场测量的高信噪比探测装置及探测方法。该探测装置包括CCD传感器、前置放大与预处理单元、采样转换机构、FPGA控制器、PHY芯片和光纤网络接口。本发明探测装置主要用于高功率激光的近场测量，能够很好的探测不同强度分布的激光，从而实现精密的近场测量。同时，该探测装置针对高功率激光进行近场测量时的高信噪比要求，能够实现高动态范围，高信噪比，低非均匀性成像，并且能够稳定输出高质量激光测量图像。此外，该探测装置能够进行采样位置的灵活选取和采样数据的高效处理，使得图像信噪比提高的同时数据处理的灵活性也极大增强。

主权项

一种用于高功率激光近场测量的高信噪比探测装置，其特征在于：包括CCD传感器、前置放大与预处理单元、采样转换机构、FPGA控制器、PHY芯片和光纤网络接口；所述CCD传感器用于进行激光探测及光电转换，并向前置放大与预处理单元输出模拟电信号；所述前置放大与预处理单元用于对CCD传感器输出的模拟电信号进行放大和预处理后传输至采样转换机构；所述采样转换机构用于将输入的模拟电信号转化为数字格式的图像数据并传输至FPGA控制器；所述FPGA控制器包括数据处理单元和时序产生与调节单元；所述数据处理单元用于对输入的图像数据进行处理后进行存储或输出；所述时序产生与调节单元用于产生并调节CCD驱动时序和AD驱动时序，所述CCD驱动时序用于驱动CCD传感器，所述AD驱动时序用于驱动采样转换机构；所述光纤网络接口通过PHY芯片与FPGA控制器进行数据传输。