[发明专利]半导体装置及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201710980840.2 申请日: 2017-10-20
公开(公告)号: CN107768392B 公开(公告)日: 2020-09-25
发明(设计)人: 陈世杰;黄晓橹 申请(专利权)人: 德淮半导体有限公司
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146
代理公司: 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 代理人: 刘倜
地址: 223300 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 本公开一种半导体装置及其制造方法。半导体装置包括:衬底,包括沟槽以及由所述沟槽分隔开的透射区;缓冲层,形成在所述衬底之上并且覆盖所述沟槽的表面和所述透射区;以及辐射调节层,形成在所述缓冲层之上,所述辐射调节层包括在处于所述沟槽中的所述缓冲层之上的第一部分以及在处于所述透射区之上的所述缓冲层之上的第二部分,所述第一部分由辐射反射材料或者辐射吸收材料形成,所述第二部分由辐射透射材料形成。
搜索关键词: 半导体 装置 及其 制造 方法
【主权项】:
一种半导体装置,其特征在于,包括:衬底,包括沟槽以及由所述沟槽分隔开的透射区;缓冲层,形成在所述衬底之上并且覆盖所述沟槽的表面和所述透射区;以及辐射调节层,形成在所述缓冲层之上,所述辐射调节层包括在处于所述沟槽中的所述缓冲层之上的第一部分以及在处于所述透射区之上的所述缓冲层之上的第二部分,所述第一部分由辐射反射材料或者辐射吸收材料形成,所述第二部分由辐射透射材料形成。
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