[发明专利]半导体装置及其制造方法有效
申请号: | 201710980840.2 | 申请日: | 2017-10-20 |
公开(公告)号: | CN107768392B | 公开(公告)日: | 2020-09-25 |
发明(设计)人: | 陈世杰;黄晓橹 | 申请(专利权)人: | 德淮半导体有限公司 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146 |
代理公司: | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人: | 刘倜 |
地址: | 223300 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本公开一种半导体装置及其制造方法。半导体装置包括:衬底,包括沟槽以及由所述沟槽分隔开的透射区;缓冲层,形成在所述衬底之上并且覆盖所述沟槽的表面和所述透射区;以及辐射调节层,形成在所述缓冲层之上,所述辐射调节层包括在处于所述沟槽中的所述缓冲层之上的第一部分以及在处于所述透射区之上的所述缓冲层之上的第二部分,所述第一部分由辐射反射材料或者辐射吸收材料形成,所述第二部分由辐射透射材料形成。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种半导体装置,其特征在于,包括:衬底,包括沟槽以及由所述沟槽分隔开的透射区;缓冲层,形成在所述衬底之上并且覆盖所述沟槽的表面和所述透射区;以及辐射调节层,形成在所述缓冲层之上,所述辐射调节层包括在处于所述沟槽中的所述缓冲层之上的第一部分以及在处于所述透射区之上的所述缓冲层之上的第二部分,所述第一部分由辐射反射材料或者辐射吸收材料形成,所述第二部分由辐射透射材料形成。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
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H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的