[发明专利]光中子源和中子检查系统在审
申请号: | 201710984433.9 | 申请日: | 2017-10-20 |
公开(公告)号: | CN107607568A | 公开(公告)日: | 2018-01-19 |
发明(设计)人: | 杨祎罡;李荐民;王东宇;于昊;王伟珍;管伟强;印炜;李伟;宋全伟;李玉兰;宗春光;刘耀红;李元景;陈志强;张丽 | 申请(专利权)人: | 清华大学;同方威视技术股份有限公司 |
主分类号: | G01N23/222 | 分类号: | G01N23/222;G01V5/00;G21G4/02 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所11038 | 代理人: | 艾春慧 |
地址: | 10008*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种光中子源和中子检查系统。光中子源包括电子加速管,用于加速电子束流;X射线转化靶,经所述电子加速管加速的电子束流轰击所述X射线转化靶产生X射线;光中子靶,所述X射线进入所述光中子靶并产生光中子;和中子调制罩壳,罩设于所述光中子靶外部,所述中子调制罩壳包括用于所述光中子输出的中子准直口。本发明可以从光中子源的中子准直口直接输出所需的中子束流。 | ||
搜索关键词: | 中子源 中子 检查 系统 | ||
【主权项】:
一种光中子源,其特征在于,包括:电子加速管(2),用于加速电子束流;X射线转化靶(3),经所述电子加速管(2)加速的电子束流轰击所述X射线转化靶(3)产生X射线;光中子靶(4),所述X射线进入所述光中子靶(4)并产生光中子;和,中子调制罩壳,罩设于所述光中子靶(4)外部,所述中子调制罩壳包括用于所述光中子输出的中子准直口。
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