[发明专利]光中子源和中子检查系统在审

专利信息
申请号: 201710984433.9 申请日: 2017-10-20
公开(公告)号: CN107607568A 公开(公告)日: 2018-01-19
发明(设计)人: 杨祎罡;李荐民;王东宇;于昊;王伟珍;管伟强;印炜;李伟;宋全伟;李玉兰;宗春光;刘耀红;李元景;陈志强;张丽 申请(专利权)人: 清华大学;同方威视技术股份有限公司
主分类号: G01N23/222 分类号: G01N23/222;G01V5/00;G21G4/02
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所11038 代理人: 艾春慧
地址: 10008*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种光中子源和中子检查系统。光中子源包括电子加速管,用于加速电子束流;X射线转化靶,经所述电子加速管加速的电子束流轰击所述X射线转化靶产生X射线;光中子靶,所述X射线进入所述光中子靶并产生光中子;和中子调制罩壳,罩设于所述光中子靶外部,所述中子调制罩壳包括用于所述光中子输出的中子准直口。本发明可以从光中子源的中子准直口直接输出所需的中子束流。
搜索关键词: 中子源 中子 检查 系统
【主权项】:
一种光中子源,其特征在于,包括:电子加速管(2),用于加速电子束流;X射线转化靶(3),经所述电子加速管(2)加速的电子束流轰击所述X射线转化靶(3)产生X射线;光中子靶(4),所述X射线进入所述光中子靶(4)并产生光中子;和,中子调制罩壳,罩设于所述光中子靶(4)外部,所述中子调制罩壳包括用于所述光中子输出的中子准直口。
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