[发明专利]一种射频电磁场相位的测量方法及系统有效
申请号: | 201710993505.6 | 申请日: | 2017-10-23 |
公开(公告)号: | CN107607795B | 公开(公告)日: | 2019-08-30 |
发明(设计)人: | 童心;王显赫;吴飞雪;时开斌 | 申请(专利权)人: | 北京经纬恒润科技有限公司 |
主分类号: | G01R29/08 | 分类号: | G01R29/08 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 王云晓;王宝筠 |
地址: | 100101 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本申请提供了一种射频电磁场相位的测量方法及系统,频谱分析仪确定待测信号的幅度,功率合成器将待测信号和参考信号进行矢量合成,获得第一合成信号,频谱分析仪确定第一合成信号的第一幅度,数据处理设备基于待测信号的幅度、参考信号的幅度和第一幅度计算待测信号相对参考信号的相位的绝对值,功率合成器将待测信号和带偏移的参考信号进行矢量合成,获得第二合成信号,频谱分析仪确定第二合成信号的第二幅度,数据处理设备基于待测信号的幅度、参考信号的幅度、待测信号相对参考信号的相位的绝对值、第二幅度和预设相位偏移确定待测信号相对参考信号的相位。本申请实现电磁场相位测量的成本较低,且适用场合比较广泛。 | ||
搜索关键词: | 一种 射频 电磁场 相位 测量方法 系统 | ||
【主权项】:
1.一种射频电磁场相位的测量方法,其特征在于,包括:频谱分析仪接收待测信号并确定所述待测信号的幅度,其中,所述待测信号为待测量的射频电磁场信号;功率合成器接收所述待测信号以及参考信号,将所述待测信号以及所述参考信号进行矢量合成,获得第一合成信号,将所述第一合成信号馈入所述频谱分析仪;所述频谱分析仪确定所述第一合成信号的幅度作为第一幅度;数据处理设备基于所述待测信号的幅度、所述参考信号的幅度以及所述第一幅度计算所述待测信号相对所述参考信号的相位的绝对值,包括:所述数据处理设备通过所述待测信号的幅度、所述参考信号的幅度以及所述第一幅度,利用
计算所述待测信号相对所述参考信号的相位的绝对值;其中,|V|为所述待测信号的幅度,|Vref|为所述参考信号的幅度,|Vsum|为所述第一幅度,θ1为所述待测信号的相位,θ2为所述参考信号的相位,S1为所述功率合成器的第一输入端口到输出端口的耦合系数,S2为所述功率合成器的第二输入端口到输出端口的耦合系数;所述功率合成器接收所述待测信号以及带偏移的参考信号,将所述待测信号与所述带偏移的参考信号进行矢量合成,获得第二合成信号,将所述第二合成信号馈入所述频谱分析仪,其中,所述带偏移的参考信号为对所述参考信号引入预设相位偏移后的信号;所述频谱分析仪确定所述第二合成信号的幅度作为第二幅度;所述数据处理设备基于所述待测信号的幅度、所述参考信号的幅度、所述待测信号相对所述参考信号的相位的绝对值、所述第二幅度以及所述预设相位偏移,确定所述待测信号相对所述参考信号的相位,包括:所述数据处理设备基于所述待测信号的幅度、所述参考信号的幅度以及所述第二幅度,计算所述待测信号相对所述带偏移的参考信号的相位的绝对值;基于所述待测信号相对所述参考信号的相位的绝对值、所述待测信号相对所述带偏移的参考信号的相位的绝对值、所述预设相位偏移确定所述待测信号相对所述参考信号的相位的正负符号,获得所述待测信号相对所述参考信号的相位,其中,所述数据处理设备基于所述待测信号的幅度、所述参考信号的幅度以及所述第二幅度,计算所述待测信号相对所述带偏移的参考信号的相位的绝对值;其中,所述数据处理设备基于所述待测信号的幅度、所述参考信号的幅度以及所述第二幅度,计算所述待测信号相对所述带偏移的参考信号的相位的绝对值,包括:所述数据处理设备通过所述待测信号的幅度、所述参考信号的幅度以及所述第二幅度,利用
计算所述待测信号相对所述带偏移的参考信号的相位的绝对值;其中,|V’sum|为所述第二幅度,Δθ为所述预设相位偏移。
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