[发明专利]微波光子鉴相方法、装置及微波光子锁相方法、装置有效
| 申请号： | 201710994560.7 | 申请日： | 2017-10-23 |
| 公开（公告）号： | CN107645341B | 公开（公告）日： | 2019-09-17 |
| 发明（设计）人： | 潘时龙;魏娟;金正元 | 申请（专利权）人： | 南京航空航天大学;韩国科学技术院 |
| 主分类号： | H04B10/532 | 分类号： | H04B10/532;H04B10/556 |
| 代理公司： | 北京德崇智捷知识产权代理有限公司 11467 | 代理人： | 杨楠 |
| 地址： | 210000 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种微波光子鉴相方法，用于检测微波信号与光脉冲信号之间的相位差。利用偏振调制器将所述微波信号调制于所述光脉冲信号之上，生成由偏振态相互垂直的两个光脉冲序列分量所构成的偏振调制信号；然后将偏振调制信号中两个光脉冲序列分量的相位差调整为90°；接着利用主轴方向与所述两个光脉冲序列分量的偏振方向间夹角均为45°的偏振分束器将偏振调制信号分为两路，最后对这两路信号进行平衡光电探测，得到电压与所要检测相位差呈正比的电信号。本发明还公开了一种微波光子鉴相装置、一种微波光子锁相方法及装置。相比现有技术，本发明具有结构简单、紧凑，探测精度高，实现成本低等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 微波 光子 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种微波光子鉴相方法，用于检测微波信号与光脉冲信号之间的相位差，其特征在于，利用偏振调制器将所述微波信号调制于所述光脉冲信号之上，生成由偏振态相互垂直的两个光脉冲序列分量所构成的偏振调制信号；然后将偏振调制信号中两个光脉冲序列分量的相位差调整为90°；接着利用主轴方向与所述两个光脉冲序列分量的偏振方向间夹角均为45°的偏振分束器将偏振调制信号分为两路，最后对这两路信号进行平衡光电探测，得到电压与所要检测相位差呈正比的电信号。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南京航空航天大学;韩国科学技术院，未经南京航空航天大学;韩国科学技术院许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201710994560.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
