[发明专利]一种测量聚电解质刷内部抗衡离子对的松弛行为的方法在审

专利信息
申请号: 201710996554.5 申请日: 2017-10-19
公开(公告)号: CN109682709A 公开(公告)日: 2019-04-26
发明(设计)人: 赵彬涛;杨京法;赵江 申请(专利权)人: 中国科学院化学研究所;中国科学院大学
主分类号: G01N5/00 分类号: G01N5/00
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 代理人: 关畅;王春霞
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种测量聚电解质刷内部抗衡离子对的松弛行为的方法。所述方法包括如下步骤:通过化学反应将引发剂键接到金芯片上;通过自由基聚合的方法将单体化学接枝到金芯片上,得到带有聚电解质刷的金芯片;将带有聚电解质刷的金芯片置于样品池中并用溶液浸泡;通过电化学工作站和石英晶体微天平电化学模块的联用,得在溶液中聚电解质刷内部抗衡离子对的松弛频率。本发明采用联用电化学工作站和石英晶体微天平电化学模块的方法,通过在金芯片上接枝聚电解质刷,一方面可利用石英晶体微天平实时测量在不同氯化钠溶液中聚电解质刷薄膜的质量和粘弹性的变化,另一方面也可利用电化学工作站同步测量在不同溶液中聚电解质刷内部抗衡离子对的松弛行为。
搜索关键词: 聚电解质 抗衡离子 芯片 石英晶体微天平 电化学工作站 电化学 松弛 测量 氯化钠溶液 自由基聚合 化学反应 电解质 化学接枝 溶液浸泡 实时测量 松弛频率 同步测量 用电化学 接枝聚 样品池 引发剂 粘弹性 联用 薄膜 工作站 并用
【主权项】:
1.一种测量聚电解质刷内部抗衡离子对的松弛行为的方法,包括如下步骤:(1)通过化学反应,将引发剂键接到金芯片上;(2)通过自由基聚合的方法,将单体化学接枝到所述金芯片上,得到带有聚电解质刷的金芯片;(3)将所述带有聚电解质刷的金芯片置于样品池中并用溶液浸泡;通过电化学工作站和石英晶体微天平电化学模块的联用,即得在所述溶液中聚电解质刷内部抗衡离子对的松弛频率。
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