[发明专利]一种存储过程的测试方法、存储介质和数据库服务器在审

专利信息
申请号: 201711001281.2 申请日: 2017-10-24
公开(公告)号: CN109697161A 公开(公告)日: 2019-04-30
发明(设计)人: 陆晶莹 申请(专利权)人: 中兴通讯股份有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 工业和信息化部电子专利中心 11010 代理人: 于金平
地址: 518057 广东省深圳市南山*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种存储过程的测试方法、存储介质和数据库服务器,该方法包括:建立待测存储过程的入口参数与待测存储过程对应的待操作表的字段之间的对应关系;生成测试用例模板;读取预设测试用例数据,并将预设测试用例数据写入到测试用例模板中,生成测试用例文件;根据测试用例文件对待测存储过程进行测试。本发明通过对应关系和数据字典的内容,自动生成测试用例模板,并自动根据预设测试用例数据进行测试,输出待测存储过程的测试结果,整个过程完全自动化,不需要大量的人力来手工编写测试用例,提升了存储过程的测试效率,解决了现有技术通过手工编写测试用例进行测试的方法测试的效率低,无法达到快速测试的目的的问题。
搜索关键词: 存储过程 测试 测试用例数据 预设 测试用例模板 数据库服务器 存储介质 生成测试 测试用例文件 读取 测试效率 快速测试 入口参数 数据字典 自动生成 字段 写入 自动化 输出
【主权项】:
1.一种存储过程的测试方法,其特征在于,包括:建立待测存储过程的入口参数与所述待测存储过程对应的待操作表的字段之间的对应关系;根据数据字典和所述对应关系,生成测试用例模板;读取预设测试用例数据,并将所述预设测试用例数据写入到所述测试用例模板中,生成测试用例文件;根据所述测试用例文件对所述待测存储过程进行测试。
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