[发明专利]一种基于K统计分布模型背景的目标检测方法

摘要

本发明公开了一种基于K统计分布模型背景的目标检测方法，所述方法包括以下步骤：步骤1)获取符合K统计分布模型的观测样本数据{zi}，i＝1，2，...，N；步骤2)利用观测样本数据{zi}，i＝1，2，...，N，构造R估计器，从而对K统计分布模型的形状参数进行估计；步骤3)利用得到的K统计分布模型的形状参数，计算恒虚警检测方法中的自适应检测门限值；将待检测量与门限值进行对比；若大于门限值，判断为有目标；否则，判断为无目标。本发明的方法中利用R估计器对K统计分布模型的参数进行估计，该R估计器不论观测样本大小，对于取值范围在0.2～10之间的待估形状参数都有着较为优秀的估计精度，打破了现有估计器对于不同估计情况的局限性，使得同一个估计器能够适应更广泛的应用。

主权项

1.一种基于K统计分布模型背景的目标检测方法，包括以下步骤：步骤1)获取符合K统计分布模型的观测样本数据{z_i}，i＝1，2，...，N；步骤2)利用观测样本数据{z_i}，i＝1，2，...，N，构造R估计器，从而对K统计分布模型的形状参数进行估计；步骤3)利用得到的K统计分布模型的形状参数，计算恒虚警检测方法中的自适应检测门限值；将待检测量与门限值进行对比；若大于门限值，判断为有目标；否则，判断为无目标。