[发明专利]一种顾及广义耦合暗信息的卷积码盲识别方法在审
| 申请号： | 201711007139.9 | 申请日： | 2017-10-24 |
| 公开（公告）号： | CN107566091A | 公开（公告）日： | 2018-01-09 |
| 发明（设计）人： | 冉晟伊;熊于菽;柯亚莉 | 申请（专利权）人： | 重庆电子工程职业学院 |
| 主分类号： | H04L1/00 | 分类号： | H04L1/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 401331 重庆*** | 国省代码： | 重庆;85 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种顾及广义耦合暗信息的卷积码盲识别方法，主要研究的是(n，l，m)并行级联卷积码盲识别技术，属于信道编码盲识别技术领域，其技术方案如下将接收码序列按不同长度进行分段，构建卷积码广义多项式暗信息的线性方程组，进行顾及广义耦合暗信息的并行级联卷积码校验向量盲估计，利用解向量与卷积码耦合多项式的校验关系，构建耦合多项式暗信息线性方程组，进一步计算得出卷积码耦合多项式。本发明对于高误码率具有较好的适应性，能识别并检测并行级联卷积码，适用于智能通信、信息处理等领域。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 顾及 广义 耦合 信息 卷积码 识别 方法 | ||
【主权项】：
一种顾及广义耦合暗信息的卷积码盲识别方法，其特征在于，包含如下步骤：S1：将接收码序列按不同长度进行分段，构建卷积码广义多项式暗信息的线性方程组；S2：进行顾及广义耦合暗信息的并行级联卷积码检验向量盲估计；S3：利用解向量与卷积码耦合多项式的校验关系，构建耦合多项式暗信息线性方程组，进一步计算得出卷积码耦合多项式。
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