[发明专利]一种时间比对测量装置及方法有效
申请号: | 201711007485.7 | 申请日: | 2017-10-25 |
公开(公告)号: | CN107817480B | 公开(公告)日: | 2019-07-26 |
发明(设计)人: | 魏海涛;刘轶龙;叶红军;甘兴利;罗显志;树玉泉 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第五十四研究所 |
主分类号: | G01S7/40 | 分类号: | G01S7/40 |
代理公司: | 河北东尚律师事务所 13124 | 代理人: | 王文庆 |
地址: | 050081 河北省石家庄市*** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | 本发明公开了一种时间比对测量装置和方法,能够在双向时间比对中,根据时差数据调节发射时延,从而减小时间比对链路的非对称性,提高时间比对的性能,在测量开始前,对时间比对测量装置的发射时延和接收时延进行标定;进行时间比对,经时间比对数据处理获得节点间的时差数据;根据时差数据调整发射时延,时间比对链路的非对称性保持在一定范围;时间比对链路的非对称性保持在一定范围的情况下,进行时间比对,获得时差结果。 | ||
搜索关键词: | 一种 时间 测量 装置 方法 | ||
【主权项】:
1.一种时间比对测量装置,包括第一时间比对测量设备(102)、第二时间比对测量设备(103)和时间比对数据处理设备(104),其特征在于,第一时间比对测量设备(102)和第二时间比对测量设备(103)分别用于接收外部输入的时频基准信号,根据时频基准信号和发射时延调整参数产生时间比对测量信号,输出至另一个时间比对测量设备,还用于接收另一个时间比对测量设备的时间比对测量信号,并产生时间比对测量结果,输出至时间比对数据处理设备(104);时间比对数据处理设备(104)用于对第一时间比对测量设备(102)和第二时间比对测量设备(103)产生的时间比对测量结果进行差分处理,并扣除第一时间比对测量设备(102)和第二时间比对测量设备(103)的发射时延、接收时延及其它信号传输环境造成的误差,获得时差数据;其中,第一时间比对测量设备(102)和第二时间比对测量设备(103)的发射时延和接收时延外部标定或直接测量得到;所述的第一时间比对测量设备(102)和第二时间比对测量设备(103)的结构相同,均包括时间比对发射单元(202)和时间比对接收单元(203);时间比对发射单元(202)用于根据外部输入的时频基准信号和发射时延调整参数产生时间比对测量信号,输出至另一个时间比对测量设备;时间比对接收单元(203)用于根据时频基准信号接收另一个时间比对测量设备的时间比对测量信号,并产生时间比对测量结果,输出至时间比对数据处理设备(104);所述的时间比对发射单元(202)包括发射时延调整模块(204)和测量信号产生模块(205);发射时延调整模块(204)用于根据发射时延调整参数和时频基准信号生成发射时延调整信号,输出至测量信号产生模块(205),测量信号产生模块(205)用于根据发射时延调整信号产生时间比对测量信号。
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