[发明专利]具有自检功能的存储器及其检测方法有效
| 申请号： | 201711007678.2 | 申请日： | 2017-10-18 |
| 公开（公告）号： | CN109686397B | 公开（公告）日： | 2021-08-17 |
| 发明（设计）人： | 孙巍巍 | 申请（专利权）人： | 天津市中力神盾电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 300384 天津市滨海高新区华苑*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明提供的具有自检功能的存储器及其检测方法，包括存储器及与其通信连接的控制器，控制器包括：读取模块，用于读取存储器测试区域和/或控制器内存的数据；写入模块，用于将数据写入存储器测试区域和/或控制器内存；删除模块，用于将存储器测试区域和/或控制器内存的数据删除；确定模块包括：第一判断单元，用于确定控制器与存储器是否连接；第二判断单元，用于确定存储器测试区域的存储区域位置；第三判断单元，用于确定读取和/或写入的数据是否正确和/或一致；检测结果生成模块，用于根据确定模块确定的结果，生成表征存储器状态的结果。本发明方案可快速准确地检测存储器存储功能和存储容量是否存在异常，提高存储器检测的工作效率。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 自检 功能 存储器 及其 检测 方法 | ||
【主权项】：
1.具有自检功能的存储器，包括存储器(1)及与其通信连接的控制器(2)，其特征在于，所述控制器(2)包括：读取模块(21)，用于读取存储器测试区域和/或控制器内存的数据；写入模块(22)，用于将数据写入存储器测试区域和/或控制器内存；删除模块(23)，用于将存储器测试区域和/或控制器内存的数据删除；确定模块(24)，包括：第一判断单元(241)，用于确定控制器与存储器是否连接；第二判断单元(242)，用于确定存储器测试区域的存储区域位置；第三判断单元(243)，用于确定所读取和/或所写入的数据是否正确和/或一致；检测结果生成模块(25)，用于根据确定模块(24)所确定的结果，生成用于表征存储器状态的检测结果。
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